Możliwości oceny topografii czynnej powierzchni struny zbrojonej trwale za pomocą nowoczesnych metod mikroskopii

• Autorzy: Ciałkowska B , Wiśniewska M
• Konferencja: XXXV Naukowa Szkoła Obróbki Ściernej na temat Problemy i tendencje rozwoju obróbki ściernej, 19-21 września 2012, Lądek Zdrój
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia; topografia powierzchni; powierzchnia czynna; struna zbrojona

EN

microscopy; surface topography; active surface; reinforced string

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 85, nr 8-9CD (NSOŚ)
• Strony: 81--91
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tabl.

Twórcy

autor

Ciałkowska B

• Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji, Wydział Mechaniczny, Politechnika Wrocławska, ul. Łukaszewicza 5, 50-371 Wrocław

autor

Wiśniewska M

• Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji, Wydział Mechaniczny, Politechnika Wrocławska, ul. Łukaszewicza 5, 50-371 Wrocław

Bibliografia

• [1] CIAŁKOWSKA B., WIŚNIEWSKA M., Efekty cięcia monokryształów z fazy ciekłej struną o różnym zbrojeniu, Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji, vol. 31, nr 4, Poznań, 2011
• [2] Dane: Centrum Zaawansowanych Systemów Produkcyjnych, Wydział Mechaniczny, Politechnika Wrocławska
• [3] Dane ze strony producenta – firma Zeiss: http://www.eloserwis.pl/evo_series.html
• [4] Dane ze strony producenta – firma Keyence: http://www.digitalmicroscope.com/solutions/digital-microscope.php
• [5] Katalog firmy HK Prazisionstechnik GmbH
• [6] PSZCZOŁOWSKI W., ROSIENKIEWICZ P., Obróbka ścierna narzędziami nasypowymi, WNT, Warszawa, 1995
• [7] WIECZORKOWSKI M., CELLARY A., CHAJDA J., Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko, Poznań, 2003