Czterdzieści lat pracy w laboratorium światła i barwy GUM (1965–2005)

• Autorzy: Pietrzykowski J.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Rok 1965 nie stanowił żadnego przełomu w dziedzinie pomiarów fotometrycznych i kolorymetrycznych, jednakże dla młodego fizyka rozpoczynającego pracę było to wielkie wyzwanie połączone z wchodzeniem w tajniki metrologii. Minęło już kilkanaście lat od 1948 r., w którym IX Generalna Konferencja Miar i Wag przyjęła nową definicję kandeli opartą na promieniowaniu ciała czarnego w temperaturze krzepnięcia platyny. Przed kilku laty zaprzestano również w GUM stosowania w fotometrii wizualnych metod pomiarowych przechodząc w pełni na metody obiektywne z odbiornikiem fizycznym. Z poprzednich lat pozostały jednakże, takie ciekawe przyrządy jak wizualny fotometr i wizualny kolorymetr Donaldsona. Pozostały publikacje naukowo-techniczne Czaplickiego [1], Rolińskiego [2], Roupperta [3] i podstawowe publikacje zwarte Oleszyńskiego [4] i Rolińskiego [5]. To wszystko pozwoliło w jakimś stopniu zrozumieć drogę, jaką przeszła fotometria i kolorymetria w ciągu kilkudziesięciu minionych lat i uzyskać solidne przygotowanie do wykonywania prac metrologicznych.

Słowa kluczowe

PL

historia metrologii; kolorometria; spektrofotometria

EN

history of metrology; colorometry; spectrophotometry

• Wydawca: Główny Urząd Miar
• Czasopismo: Metrologia : biuletyn informacyjny Głównego Urzędu Miar
• Rocznik: 2009
• Tom: wydanie jubileuszowe
• Strony: 25--30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 24 poz., fot.

Twórcy

autor

Pietrzykowski J.

• emerytowany pracownik GUM

Bibliografia

• [1] Czaplicki T.: O jednostce światłości. Przegląd gazowniczy i wodociągowy nr 5, 1 - 10 (1925).
• [2] Roliński J.: Nowa metoda spektrograficzna pomiaru zmiennych natężeń linii widmowych w jednym okresie. PAK nr 8 (1960).
• [3] Rouppert S.: Wyznaczenie przepuszczalności monochromatora zwierciadlanego Zeissa w części widzialnej widma. PAK nr 19 (1962).
• [4] Oleszyński T.: Miernictwo techniki świetlnej. PWN. Warszawa 1957.
• [5] Roliński J.: Komórki fotoelektryczne. Warszawa PWT 1956.
• [6] Geist J.: On the possibility of an absolute radiometric standard based on the quantum efficiency of silicon photodiode. Proc. SPIE. Vol. 196. 75- 83 (1979).
• [7] Zalewski E.F., Geist J.: Silicon photodiode absolute spectral response self-calibration. Appl. Opt. vol. 19, nr 18, 1214- 1216 (1980).
• [8] Zalewski E.F., Duda C.R.: Silicon photodiode device with 100 % external quantum efficiency. Appl. Opt. vol. 22, nr 18, 2867- 2873 (1983).
• [9] Pietrzykowski J.: Metoda samokalibracji czułości widmowej fotodiod krzemowych i odbiorniki promieniowania typu pułapki świetlnej. Przegląd Elektrotechniczny nr 12, 278- 282 (1993).
• [10] Pietrzykowski J.: Self-calibration silicon photodiodes and their application. Polish Chapter of SPIE, Lasermetry, vol. 1, 61- 72 (1995).
• [11] Eppeldauer G.P., Lynch D.C.: Opto-mechanical and electronic design of a tunnel-trap Si radiometer. J. Res. of NIST vol. 105, nr 6, 813- 828 (2000).
• [12] Pietrzykowski J.: Tolerancje pomiarów barwy i chromatyczności. Przegląd Elektrotechniczny nr 5, 233- 237 (1974).
• [13] Pietrzykowski J.: Porównanie różnic barwy obliczonych według pięciu rożnych wzorów. Przegląd Elektrotechniczny nr 3, 133- 137 (1975).
• [14] Pietrzykowski J.: Ewolucja wzorów różnicy barw zalecanych do stosowania przez CIE. I Krajowe Sympozjum Kolorymetryczne KSK ‘96, Łódź, 111- 115 (1996).
• [15] Pietrzykowski J., Sobczak N.R.: Wzory i tabele kolorymetryczne. PKNMiJ, Warszawa 1981.
• [16] Kuszczyńska A., Pietrzykowski J.: Wzorce odbicia i barwy ze spiekanego politetrafluoroetylenu. VIII Krajowa Konferencja Metrologii, Warszawa, 153- 154 (1995).
• [17] Pietrzykowski J., Kuszczyńska A.: Herstellung der Farbstandards aus sinterem Polytetrafluoroethylen. Internationale Farbtagung Farb-Info 95, Luzern, 1995.
• [18] Kuszczyńska A., Pietrzykowski J.: Polytetrafluoroethylene powder as a material for reflectance and colour standards. Proc. SPIE vol. 4517 Lightmetry: Metrology, spectroscopy, and testing techniques using light, 108- 114 (2001).
• [19] Pietrzykowski J.: Metrological control of absorption photometers and spectrophotometers in Poland. OIML Bulletin vol. 36, nr 4, 36 (1995).
• [20] Pietrzykowski J., Sobótko D., Szajna G., Rębecka A.: Realizacja wzorca jednostki światłości kandeli w Głównym Urzędzie Miar. VIII Krajowa Konferencja Metrologii, Warszawa, 89- 94 (1995).
• [21] Pietrzykowski J.: Problem wzorca pierwotnego w metrologii promieniowania optycznego. Prace Komisji Metrologii PAN, Seria: Konferencje nr 1, Podstawowe Problemy Metrologii PPM ’98, 250- 260 (1998).
• [22] Pietrzykowski J., Kuszczyńska A., Ohanowicz-Adamska K.: White reflection standards made of PTFE and opal glass. AIC Midterm Meeting, 22- 23 June 1999, Warszawa, 175- 178 (1999).
• [23] Pietrzykowski J.: Międzynarodowa Konferencja Kolorymetryczna AIC Midterm Meeting, 22- 23 czerwca 1999 r. Metrologia i Probiernictwo nr 1 (20), 20- 21 (2000).
• [24] Fiok A.: Telewizja. Podstawy ogólne. WKŁ, Warszawa 1991.