Metodyka selekcji detektorów UV do zastosowań specjalnych

• Autorzy: Ćwirko J. , Ćwirko R.

Warianty tytułu

EN

Methodology the selection and characterization of UV detectors for specific purposes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia metodykę selekcji i charakteryzacji detektorów UV do celów specjalnych. Detektory, które stanowią najczęściej tylko kilka procent całkowitego kosztu urządzenia do detekcji promieniowania UV, decydują głównie o jego parametrach. Procedury charakteryzacji powinny umożliwiać uzyskanie dodatkowych, pozakatalogowych informacji z punktu widzenia wymagań eksploatacji sprzętu wojskowego w ekstremalnych warunkach.

EN

The article presents the methodology the selection and characterization of UV detectors for specific purposes. Detectors, which are mostly only a few percent of the total cost of equipment for the detection of UV radiation, are mainly about his parameters. Characterization procedures should make it possible to obtain additional information from the point of view of the requirements of the operation of military equipment under extreme conditions.

Słowa kluczowe

PL

detektor UV; badania temperaturowe; charakterystyka widmowa fotodetektora

EN

UV detectors; measurement temperature; spectral characteristics of photodetectors

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 9
• Strony: 75--78
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Ćwirko J.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki ISE

autor

Ćwirko R.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki ISE

Bibliografia

• [1] Koren B.: Photodiodes: Ubiquitous components in today’s arsenal of smart weapons. Advanced Photonics, Inc. USA, 2003.
• [2] Omnes F, Manroi E.: Ultraviolet Photodetectors. Optoelectronics Sensor. (2010), pp. 181-222.
• [3] Hari Sing Nalwa – editor: Photodetectors and Fiber Optics. Academic Press, 2001, ISBN 0-12-513908-X.
• [4] Dahay R. i in.: AIN MSM and Schottky Photodetectors. Phys. Stat. Solid. © 5, no. 6, 2145-2153 (2008).
• [5] Liu H. i in. 4H-SiC PIN Recessed-Window Avalanche Photodiode with High Quantum Efficency. Photonics Technology Letters, IEEE, vol. 20, issue 18, 2008, pp. 1551-1553