Ellipse-fitting algorithm implementation in the impedance measurement system based on DAQ card with FPGA

• Autorzy: Lentka G. , Targan M.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.11.31

Warianty tytułu

PL

Implementacja metody ellipse-fitting w systemie pomiaru impedancji na bazie karty DAQ z układem FPGA

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents an implementation of the ellipse-fitting algorithm in the impedance measurement system based on DAQ card equipped with FPGA chip. The method implementation was tested by simulation means as well as experimentally in the designed and presented measurement system. Finally, the limit values of sampling parameters which assures satisfying accuracy were given.

PL

W artykule omówiono implementację algorytmu ellipse-fitting w systemie pomiarowym impedancji na bazie karty DAQ z układem FPGA. Implementacja metody została przebadana zarówno symulacyjnie jak również eksperymentalnie w zaprezentowanym systemie. Przedstawiono minimalne wartości parametrów próbkowania dla zapewnienia akceptowalnej dokładności.

Słowa kluczowe

EN

impedance measurement; impedance spectroscopy; ellipse fitting algorithm

PL

pomiar impedancji; spektroskopia impedancyjna; algorytm ellipse fitting

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 11
• Strony: 124--127
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Lentka G.

• Gdansk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics, Department of Metrology and Optoelectronics, ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

autor

Targan M.

• Gdansk University of Technology, Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics, Department of Metrology and Optoelectronics, ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

Bibliografia

• [1] Agilent Impedance Measurement Handbook, A guide to measurement technology and techniques, 4th Edition, 10 September, USA 2013
• [2] Halíř R., Flusser J., Numerically stable direct least squares fitting of ellipses, Proc. 6th International Conference in Central Europe on Computer Graphics and Visualization, WSCG '98. University of West Bohemia (1998), 125-132.
• [3] Hoja J., Lentka G., Szybkie metody spektroskopii impedancyjnej, Rozdział w monografii: Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej, nr 4, Oficyna Wyd. Pol. Wroc., Wrocław (2011), 201-252.
• [4] National Instruments, Getting Started whith R Series Multifunction RIO, http://www.ni.com/pdf/manuals/373256g.pdf.
• [5] Ramos P.M., Janeiro F.M., Radil T., Comparative analysis of three algorithms for twochannel common frequency sinewave parameter estimation: ellipse fit, seven parameter sine fit and spectral sinc fit, Metrology and Measurement Systems, 17 (2010), n. 2, 255-270.
• [6] Ramos P.M., Janeiro F.M., Radil T., Comparison of impedance measurements in a DSP using ellipse-fit and seven-parameter sine-fit algorithms, Measurement, 42 (2009), n.9, 1370-1379.
• [7] Ramos, P.M., Janeiro, F.M., Tlemcani, M.; Serra, A.C., Recent Developments on Impedance Measurements With DSP-Based Ellipse-Fitting Algorithms, IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, 58 (2009), n.5, 1680-1689

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.