Metodyka analizy sygnałów w pomiarach grubości warstw wierzchnich

• Autorzy: Ptak P.

Warianty tytułu

EN

Method for analysis of signals in measurements of thickness of top layers

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono sposoby analizy sygnałów pomiarowych w pakietach programowych opartych na programowaniu obiektowym, które służą do symulacji procesów pomiarowych takie jak Dasylab oraz Multisim firmy National Instruments. Scharakteryzowano możliwości programów w zakresie budowania schematów przepływu danych pomiarowych i analizy tych danych pod kątem ich wykorzystania w pomiarach grubości warstw wierzchnich. W dalszej części przedstawiono przykładowe układy pomiarowe zbudowane w tych programach. Przybliżono programowe możliwości analizy dokładności wbudowane w prezentowane programy symulacyjne.

EN

Article presents methods of analysis of measurement signals in software packages based on object-oriented software, which are used to simulate measuring processes such as DasyLab and Multisim of the firm National Instruments. It was characterized the possibility of building programs in field of measurement data flow diagrams and analysis of these data in terms of their use in measuring thickness of top layers. The next part of the article gives examples of measurement systems built in these programs. It was brought closer the question of software possibilities of accuracy built into presented simulation programs.

Słowa kluczowe

PL

programowanie obiektowe; grubość warstwy wierzchniej; analiza sygnałów pomiarowych; pomiar grubości powłok

EN

analysis of measurement signals; object-oriented software; thickness of top layers

• Wydawca: Oddział Zagłębia Węglowego Stowarzyszenia Elektryków Polskich w Katowicach
• Czasopismo: Śląskie Wiadomości Elektryczne
• Rocznik: 2011
• Tom: Nr 4 (97)
• Strony: 44--46
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Ptak P.

• Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, Zakład Metrologii i Diagnostyki

Bibliografia

• [1] Lewińska-Romicka A., (2001), Pomiary grubości powłok, Biuro Gamma, Warszawa.
• [2] Bronkiewicz A., Ptak P., (2005), Wybrane aspekty metrologiczne metody pomiaru grubości warstw wierzchnich na podłożach ferromagnetycznych. Materiały V Krajowej Konferencji PES-5 Postępy w Elektrotechnice Stosowanej, Zakopane-Kościelisko, s. 283-290.
• [3] Kurkowski M.: Analiza sygnałów przy użyciu pakietu DasyLab, XXXII MKM'2000, Rzeszów-Jawor, 11-15.09.2000. Materiały T.2, s. 389-394.
• [4] Winiecki W., (2001), Graficzne zintegrowane środowiska programowe, Wyd. Mikom Warszawa.
• [5] Kurkowski M., Ptak P., (2001), Charakterystyka oprogramowania systemów pomiarowych, Zeszyty Naukowe Politechniki Częstochowskiej.
• [6] Noga K. M., Radwański M., (2009), Multisim. Technika cyfrowa w przykładach. Wydawnictwo BTC, Legionowo.
• [7] Prauzner T., (2006), Zastosowanie programów symulacyjnych w nauczaniu przedmiotów technicznych, Prace Naukowe Akademii im. Jana Długosza w Częstochowie, s.121-128.