Point spectroscopy - ocena możliwości wykorzystania mikroskopu AFM diCALIBER do badania właściwości powierzchni

• Autorzy: Majchrowski R. , Kuchta M.

Warianty tytułu

EN

Point spectroscopy - evaluating the possibility of using AFM diCALIBER microscopy to study the surface properties

• Konferencja: XV Krajowa i VI Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Łódź-Uniejów 17-19.09.2014r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Niniejsza praca zawiera ocenę możliwości wykorzystania mikroskopu AFM diCaliber do badania właściwości powierzchni. Badania topografii powierzchni zostały przeprowadzone w kontaktowym trybie pracy mikroskopu, ponadto dokonano pomiarów w trybie point spektroskopy, by na podstawie uzyskanych krzywych siły od odległości ostrze-próbka uzyskać jak najwięcej informacji o badanej powierzchni. Przedstawiono przykład pomiaru i analizy powierzchni metodą point spektroskopy.

EN

This article contains an engineering information about evaluating the possibility of using atomic force microscopy (AFM) to study of the surface properties. The study of surface topography were performed in contact mode operation of AFM microscopy. This work describes an example of the measurement and analysis of surface point spectroscopy method.

Słowa kluczowe

PL

SPM; AFM; point spectroscopy; topografia powierzchni

EN

SPM; AFM; point spectroscopy; surface topography

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 87, nr 8-9CD1
• Strony: 231--238
• Opis fizyczny: Bibliogr. 15 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Majchrowski R.

• Politechnika Poznańska

autor

Kuchta M.

• Politechnika Poznańska

Bibliografia

• [1] FRIEDRICH C. R., COANE P. J., VASILE M. J., 1997, Micromilling development and applications for microfabrication, W: Microelectronic Engineering, 35, 367-372.
• [2] ADAMS D. P., VASILEB M. J., KRISHNANB A. S. M., 2001,: Microgrooving and microthreading tools for fabricating curvilinear features, W: Precision Engineering, 24, 347-356.
• [3] SCHULZE TH., BREZGER B., MERTENS R., PIVK 33. M., PFAU T., MLYNEK J., 2000, Writing a superlattice with light forces, W: Appl. Phys., B/70, 671-674.
• [4] BHUSHAN B., 2005, Nanotribology and nanomechanics., W: Wear, 259, 1507-1531.
• [5] KASSNER M. E., NEMAT-NASSER S., SUO Z., BAO G., BARBOUR J.C, BRINSON L. C., ESPINOSA H., GAO H., GRANICK S., GUMBSCH P., KYUNG-SUK K., KNAUSS W., KUBIN L., LANGER J., BEN C. LARSON B. C, MAHADEVAN L., MAJUMDAR A., TORQUATO S., FRANK VAN SWOL F., 2005, New directions in mechanics, W: Mechanics of Materials, 37, 231-259.
• [6] BINNIG G., ROHRER H., 1986, Scanning tunneling microscopy – from birth to adolescence, Nobel lecture.
• [7] STOPKA M., DREWS D., MAYR K., LACHER., EHRFELD W., KALKBRENNER T., GRAF M., SANDOGHDAR V., MLYNEK J., 2000, Multifunctional AFM SNOM Cantilever Probes Fabrication and Measurements, W: Microelectronic Engineering, 53, 183-186.
• [8] GOTSZALK T. P, 2004, Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro i nanostruktur, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej.
• [9] BRAMOWICZ M., KŁYSZ S.,2007, Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w diagnostyce warstwy wierzchniej, Prace Naukowe ITWL, 22, 159-166.
• [10] KOPACZYŃSKA M., 2010, Mikroskopia sił atomowych (AFM) – biomedyczne zastosowanie pomiarów w nanoskali, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej.
• [11] SIKORA A., 2012, Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych, Prace Instytutu Elektrotechniki, 257, 17-114.
• [12] KWACZ M., CHIZHIK S., RYMUZA Z. i inni, 2004, Badanie właściwości mechanicznych warstwy wierzchniej polimerowych elementów miniaturowych łożyska ślizgowego przy użyciu mikroskopu sił atomowych, W: Polimery,7-8, 551-557.
• [13] http://www.jpk.com/afm.230.en.html (02.12.2013).
• [14] OUYANG Q., ISHIDA K., OKADA K., 2001, Investigation of micro-adhesion by atomic force microscopy, W: Applied Surface Science, 169-170, 644-648.
• [15] http://www.azom.com/materials.aspx (02.03.2014).