Właściwości optyczne pokryć antyrefleksyjnych dla zastosowań fotowoltaicznych

• Autorzy: Stapiński T. , Marszałek K. , Jaglarz J

Warianty tytułu

EN

Optical properties of antireflective layers for photovoltaic applications

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przeanalizowano wpływ pokryć antyrefleksyjnych zarówno na powierzchni szkła modułu fotowoltaicznego jak i stosowanych warstw ARC na powierzchni ogniw słonecznych na bazie krzemu na właściwości optyczne systemu. Wyznaczono rekomendowane wartości współczynników załamania oraz grubości pokryć. Wyliczone wartości pozostają w zgodności z wynikami pomiarów optycznych.

EN

In this paper authors analyzed the influence of antireflective coatings on glass surface of PV module and influence of ARC deposited on silicon surface of solar cells on optical properties of the system. The recommended values of thicknesses and refractive indices were estimated. These values are in a good agreement with results of optical measurements.

Słowa kluczowe

PL

ogniwo słoneczne; fotowoltaika; właściwości optyczne; pokrycie antyrefleksyjne

EN

solar cell; photovoltaic; optical properties; antireflective coating

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 90, nr 9
• Strony: 91--93
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Stapiński T.

• AGH w Krakowie, Katedra Elektroniki, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków

autor

Marszałek K.

• AGH w Krakowie, Katedra Elektroniki, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków

autor

Jaglarz J

• Politechnika Krakowska, Instytut Fizyki, ul. Podchorążych 1, 30-084 Kraków

Bibliografia

• [1] Nocun M., Kwasny S., Skuba P., Otrzymywanie powłok antyrefleksyjnych na szkle techniką zol-żel Materiały Ceramiczne /Ceramic Materials 62 (2010) nr. 1, 46-50
• [2] Marszałek K, Winkowski P., Jaglarz J., Optical properties of the Al2O3/SiO2 and Al2O3/HfO2/SiO2 antireflective coatings Materials Science Poland, 32 (2014) nr.1, 80-87
• [3] Swatowska B., Stapinski T., Drabczyk K., Panek P., The role of antireflective coatings in silicon solar cells – the influence on their electrical parameters, Optica Applicata, XLI, (2011) nr. 2, 487-492
• [4] Kaes M., Hahn G., Peter K., Enebakk E., Proc. 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion-IEEE, Waikoloa, Hawaii, May 7–12, 2006
• [5] Fujiwara H., Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, J. Wiley & Sons (2007)
• [6] Azzam R.M.A., Bashara N.M., Ellipsometry and polarized light, North-Holland, Amsterdam 1987
• [7] Karasiński P., Jaglarz J., Reben M., Skoczek E., Mazur J., Porous silica xerogel films as antireflective coatings – Fabrication characterization, Optical Materials 33 (2011) 1989-1994
• [8] Jaglarz J., Wagner T., Cisowski J., Sanetra J., Ellipsometric studies of carbazole-containing polymer layers, Optical Materials, 29, (2007) 908-912