Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy zaprezentowano możliwości zastosowania spektrometru masowego typu, "mass-reflectron" do badań jednorodności przestrzennej składu chemicznego i domieszkowania stopów metali lekkimi pierwiastkami. Na podstawie wykonanych badań stopów intermetalicznych wykazano użyteczność prezentowanej metody w zakresie analizy jednorodności głównych składników stopowych: Al, Fe, Cr jak również lekkich domieszek: H, C, O.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
309--315
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Optoelektroniki, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Wojskowa Akademia Techniczna, ul. Kaliskiego 2, 01-489 Warszawa
autor
- A.F. Ioffe Physico-Technical Institute Russian Academy of Sciences, ul. Polytechnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russian Federation
autor
- A.F. Ioffe Physico-Technical Institute Russian Academy of Sciences, ul. Polytechnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russian Federation
autor
- A.F. Ioffe Physico-Technical Institute Russian Academy of Sciences, ul. Polytechnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russian Federation
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-05d3ae63-b507-4517-8a04-072f6552e6bd