Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
An automatic system for testing structures of organic electronics
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono opis systemu mechatronicznego stanowiącego część probera do badań struktur elektroniki organicznej w zakresie charakterystyk elektrycznych. Pomiary struktur odbywać się będą metodami ostrzowymi w atmosferze ochronnej. Stanowisko wyposażone zostało w podsystem wizualizacji z kamerą i zmotoryzowanym obiektywem.
This paper presents a description of the automatic mechatronic system which is a part of prober for testing the organic electronic structures in aspects of electrical characteristics. Measurements of the structures will be held by needle methods in protective gas atmosphere. The prober has been equipped with visualization subsystem containing camera with motorized lens.
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
82--84
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., rys.
Twórcy
autor
- Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
autor
- Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
autor
- Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa
autor
- Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa
Bibliografia
- [1] Adsul N., Szamel Z. i in.: High throughput apparatus for OFET characterization, I Konferencja Naukowo-Techniczna pt. Organiczna, Drukowana i Elastyczna Elektronika, Warszawa, kwiecień 2010.
- [2] Mariucci L.: Complementary organic semiconductor and metal integrated circuits, warsztaty Organic Electronics Association, Drezno, wrzesień 2010.
- [3] Szamel Z.: Elektronika organiczna w zastosowaniach, II Warsztaty Organicznej Drukowanej i Elastycznej Elektroniki w ramach projektu NoE FlexNet, Łódź, październik 2012.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-036f525f-2216-4dca-8b37-66dff42e8631