PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Pomiar temperatury zeszklenia metodą zmiennotemperaturowej elipsometrii spektroskopowej

Rocznik
Strony
12--14, 29
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., 1 rys. kolor., wykr.
Twórcy
  • Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych Polskiej Akademii Nauk w Zabrzu
autor
  • Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach
  • Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych Polskiej Akademii Nauk w Zabrzu
Bibliografia
  • [1] G.W.H. Hӧhne, W. Hemminger, H.-J. Flammersheim, Differential Scanning Calorimetry. An Introduction for Practitioners, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1996
  • [2] Introduction to Thermal Analysis. Techniques and Applications, edited by M.E. Brown, Kluwer Academic Publishers 2001
  • [3] S. Yamamoto, Y. Tsujii, T. Fukuda, Glass Transition Temperatures of High-Density Poly(methyl methacrylate) Brushes, Macromolecules 35 (2002) 6077-6079
  • [4] M. Hénot, A. Cheneviére, E. Drockenmuller, K. Shull, L. Léger, F. Restagno, Influence of grafting on the glass transition temperature of PS thin films, The European Physical Journal E. 40 (2017) 11:1-8
  • [5] B. Hajduk, H. Bednarski, B. Jarząbek, H. Janeczek, P. Nitschke, P3HT:PCBM blend films phase diagram on the base of variable-temperature spectroscopic ellipsometry, Beilstein Journal of Nanotechnology 9 (2018) 1108-1115
  • [6] M.M. Mok, J. Kim, S.R. Marrou, J.M. Torkelson, Ellipsometry measurements of glass transition breadth in bul films of random, block, and gradient copolymers, The European Physical Journal E 31 (2010) 239-252
  • [7] J. E. Pye, C.B. Roth, Above, Below, and In-Between the Two Glass Transitions of Ultra-thin Free-Standing Polystyrene Films: Thermal Expansion Coefficient and Physical Aging, Journal of Polymer Science, Part B: Polymer Physics 53 (2015) 64-75
  • [8] U. Richter, G. Dittmar, H. Ketelsen, SpectraRay/3. Measure, modeling, simulation and fits for enhancing spectroscopic ellipsometers, Sentech Instruments GmbH, 2011
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-03490760-8bf2-40cc-9f9e-fa947833cdfb
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.