Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
W poprzednim artykule opublikowanym w „STALI” nr 1-2/2014 opisałem analizę nierówności powierzchni na podstawie profilu wyodrębnionego z fragmentu powierzchni. W ten sposób już od początków stykowych pomiarów nierówności powierzchni pojawiła się idea przemieszczania igły po powierzchni i odwzorowywania znajdujących się na jej drodze wzniesień i wgłębień w formie linii. Patrząc na przekrój pionowy wyznaczony przez tę linię, można zobaczyć profil nierówności mierzonej powierzchni, a przyrząd umożliwiający taki pomiar nazywa się profilometrem.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
99--102
Opis fizyczny
Rys.
Twórcy
autor
- Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Politechniki Poznańskiej
- Sekcja Inżynierii Jakości i Diagnostyki Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-02b536cf-488f-4572-b545-246415b0fdf0