PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Prace naukowo-badawcze w Instytucie Podstaw Elektroniki WAT

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Scientific and research works in the Institute of Electronic Fundamentals of Military University of Technology
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono główne kierunki metrologicznych prac naukowo-badawczych prowadzonych w Instytucie Podstaw Elektroniki WAT. Aktualnie wykonywane prace dotyczą: badań i modelowania struktur półprzewodnikowych, identyfikacji pól fizycznych, pomiarów wielkości mechanicznych, prac na użytek elektromedycyny, metod przetwarzania i analizy sygnałów, diagnostyki technicznej w zakresie diagnozowania systemów antropotechnicznych i aplikacji optoelektroniki w technice pomiarowej. Prace badawcze są wykonywane w ramach działalności statutowej, jako tzw. prace naukowe własne oraz jako projekty badawcze finansowane z grantów Komitetu Badań Naukowych. IPE współpracuje z wieloma instytucjami wojskowymi i cywilnymi w kraju, i zagranicą, głównie we Francji i Anglii.
EN
The purpose of this paper is to show the main directions of metrological works performed in the Institute of Electronic Fundamentals of Military University of Technology. At present the works concentrate on following problems: investigation and modelling of semiconductor structures, identification of physical fields, measurements of mechanical quantities, works to be used for medical purposes, data analysis and processing, diagnostics of anthropotechnical systems and application of optoelectronics to measurement techniques. Research works are carried out as internal works of the Institute or granted by State Committee for Scientific Research. The Institute co-operates with many institutions in Poland and abroad, mainly in France and England.
Rocznik
Strony
7--36
Opis fizyczny
Bibliogr. 19 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
  • Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa
  • Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa
Bibliografia
  • [1] C. Longeaud, J. P. Kleider, P. Kamiński, R. Kozłowski, M. Pawłowski, R. Ćwirko: Techniques for the Characterization of Defect Levels in Semi-Insulating Materials, 10 Conference on Semiconducting and Insulating Materials SIMC-X, 1-5.06.1998, Berkeley, California, Program and Abstracts, USA, s. Mo4.3.
  • [2] K.J. Pluciński: Some notes on metal-insulator-semiconductor conductance technique, Appl. Phys. Lett., 61(17) 1992, s. 2087-2089
  • [3] K.J. Pluciński: Wavelet-based approach to determine the semiconductor-insulator interface parameters, Proc, of the 7th ICSPAT, Boston, 1996, s. 120-1123
  • [4] S. Osowski, Do Dinh Nghia: Shape recognition using FFT preprocessing and neural network, Compel, 1998, Vol. 17, No 5/6, s. 658-666.
  • [5] W. Brejwo, M. Chojnacki, E. Zachwieja: Pola elektryczne i magnetyczne z zakresu małych częstotliwości przy urządzeniach z lampami elektronopromieniowymi, XXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów MKM’96 - Częstochowa 1996 r, Tom 1. s. 66-71.
  • [6] J. Sienkiewicz, K. Kiczyński, Z. Watral: Badania transformatorów położenia kątowego na zautomatyzowanym stanowisku pomiarowym, III Konferencja METROLOGIA WSPOMAGANA KOMPUTEROWO, Zegrze, 19-22.05.1997, s. 135-140.
  • [7] A. Michalski, W. Piotrowski. J. Sienkiewicz, P. Trzaskawka: Przepływomierze elektromagnetyczne lat 90-tych, Biuletyn WAT- Elektronika nr 2/99.
  • [8] A. Chwaleba, J. Jakubowski, K. Kwiatos: Analiza metod przetwarzania sygnałów w zastosowaniu do diagnozowania medycznego chorób związanych z zaburzeniami ruchu, X Krajowa Konferencja Naukowa BIOCYBERNETYKA I INŻYNIERIA BIOMEDYCZNA, IBIB PAN, Warszawa, 4-6.12.1997, Materiały konferencyjne, Tom 2, s. 878-882.
  • [9] A. Chwaleba, W. Pakszys, Z. Sokołowski, K. Kwiatos: Pomiar i ocena wartości diagnostycznych drżenia patologicznego kończyn, X Krajowa Konferencja Naukowa BIOCYBERNETYKA I INŻYNIERIA BIOMEDYCZNA, IBIB PAN, Warszawa, 4-6.12.1997, Materiały konferencyjne, Tom 2, s. 883-887.
  • [10] P. Preibisch, G. Nitecki: Posturograficzna metoda oceny stopnia rehabilitacji kręgosłupa przy skrzywieniach skolio i kifotycznych, X Krajowa Konferencja Naukowa BIOCYBERNETYKA I INŻYNIERIA BIOMEDYCZNA, IBIB PAN, Warszawa 4-6.12.1997, Materiały konferencyjne, Tom 2, s. 497-501.
  • [11] B. Stec, A. Dobrowolski: Analiza własności transmisyjnych tkanek biologicznych w zastosowaniu do przestrzennej termografii mikrofalowej, Biuletyn WAT, Rok XLVI, Nr 11/97 (543), 1997, s. 31-40.
  • [12] S. Osowski: Sieci neuronowe w ujęciu algorytmicznym, WNT, Warszawa 1996.
  • [13] Z. Staroszczyk, K. Mikołajuk: New invasive method for localisation of harmonic distortion sources in power systems, European Transactions on Electrical Power, Vol.8 No.5 Sept./Oct. 1998, s. 321-328.
  • [14] L. Będkowski, T. Dąbrowski: Problemy diagnozowania w systemach antropotechnicznych, I Kongres Diagnostyki Technicznej KDT’96, Gdańsk, 17-20.09.1996. Materiały Kongresu, Tom 2, s. 30.
  • [15] L. Będkowski, T. Dąbrowski: Wybrane kierunki badań w obszarze podstaw diagnostyki technicznej, IV Krajową Konferencja DIAG’98 DIAGNOSTYKA TECHNICZNA URZĄDZEŃ I SYSTEMÓW, Szczecin-Międzyzdroje, 14-21.09.1998, Materiały Konferencyjne, Tom 1, s. 22.
  • [16] W. Olchowik: Metrologiczne aspekty diagnozowania silników o ZS na podstawie wartości chwilowej momentu obrotowego, IV Krajowa Konferencja DIAG’98 DIAGNOSTYKA TECHNICZNA URZĄDZEŃ I SYSTEMÓW, Szczecin-Międzyzdroje, 14-21.09.1998, Materiały konferencyjne, Tom 3, s. 85-90.
  • [17] J. Pietrzak: Multispectral detectors parameters and range of devices applied to laser radiation detection, Proc. SPIE - Laser Technology V, Vol. 3186, 1997, s. 411-416.
  • [18] K. Chrzanowski, M. Szulim: Measure of the influence of detector noise on temperature-measurement accuracy for multiband infrared systems, Applied Optics. Vol. 37, No. 22,1998, s. 5051-5057.
  • [19] L. Iwanejko, L. Pokora: XeCl excimer laser with three- and four-component mixture of active gases, J. Techn. Phys., Vol. 39, No. 3, 1998, s. 189.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-02520d65-fc06-4254-9866-cff90e389ba3
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.