An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation

• Autorzy: Korzybski M. , Ossowski M.

Warianty tytułu

PL

Algorytm diagnostyki błędów w układach analogowych bazujący na korelacji

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper deals with algorithm for single and multiple catastrophic fault diagnosis in analogue circuits. The algorithm bases on FFT analysis of the circuit response to the rectangular testing signal and uses as a classifier Pearson product-moment correlation coefficient. The algorithm represents SBT technique and requires multiple analyses of circuit under test, which enable us to built a fault dictionary. Each entry of dictionary is assigned with one fault. The numerical example shows the effectiveness of the proposed algorithm.

PL

W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych. Algorytm bazuje na wykorzystującej FFT analizie odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i na etapie przygotowawczym wymaga wielokrotnych analiz diagnozowanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Jego sygnatury odpowiadają uszkodzeniom, których możliwość występowania została przewidziana na etapie przygotowawczym. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu.

Słowa kluczowe

EN

fault diagnosis; catastrophic faults; correlation; parameter tolerance

PL

diagnostyka uszkodzeń; uszkodzenia katastroficzne; korelacja; tolerancja parametrów

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 2a
• Strony: 282--284
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz., schem., tab.

Twórcy

autor

Korzybski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź

autor

Ossowski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź

Bibliografia

• [1] Sen N., Saeks R., Fault diagnosis for linear systems via multifrequency measurement, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 457-465
• [2] Chen H., Saeks R., A search algorithm for the solution of multifrequency fault diagnosis equations, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 589-594
• [3] Bandler J. W., Salama A. E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, vol.73 (1981), 1279-1325
• [4] Lin P.M., Elcherif Y.S., Analoque circuits fault dictionary - New approaches and implementation, International Journal of Circuit Theory and Applications; vol. 13 (1985), 149-172
• [5] Ozawa T., Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis, New York, USA: Marcel Dekker, 1988
• [6] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol. 34, pp. 607-615, 2006.
• [7] Liu D., Starzyk J.A., A generalized fault diagnosis method in dynamic analog circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.30 (2002), 487-510
• [8] Rutkowski J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji I Łączności, 2003
• [9] El-Gamal M., Mohamed M.D.A., Ensembles of neural networks for fault diagnosis in analog circuits, Journal for Electronic Testing, vol.23 (2007), 323-339
• [10] Tadeusiewicz M., Korzybski M., A method for fault diagnosis in linear electronic circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.28 (2000), 245-262
• [11] Cannas B., Fanni A., Manetki S., Montisci A., Piccirilli M.C., Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis, Neural Comput & Applic, 13 (2004); 288-298
• [12] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M., An algorithm for soft-fault diagnosis of linear and nonlinear circuits, IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol.49 (2002), 1648-1653
• [13] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Evolutionary metod for test frequences selection based on entropy index and ambiguity sets, International Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06 (2006), 511-514
• [14] Korzybski M., Diagnozowanie uszkodzeń parametrycznych wykorzystujące FFT oraz metodę programowania wyrażeń genetycznych, Proceedings of IX KKE, CD, pp.181-186, 2010.
• [15] Korzybski M., Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits, Przegląd Elektrotechniczny, 86, nr 5, pp.195-198, 2011.
• [16] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne, Proceedings of VII KKE, pp.311-316, 2008.
• [17] Kamińska B., Arabi K., Bell I., Goteti P., Huertas J.L., Kim B., Rueda A., Soma M., Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits – First Release, Proceedings International Test Conference, 1997