Laboratorium systemów pomiarowych ze współużywanym zestawem urządzeń pomiarowych

• Autorzy: Pękala J. , Kasprzak B.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Na studiach technicznych istotną część kursów, dotyczących systemów pomiarowych stanowią zajęcia praktyczne. Zorganizowanie pracowni laboratoryjnej dla grupy studenckiej jest bardzo kosztowne. Wynika to przede wszystkim z cen aparatury pomiarowej. W artykule przedstawiono organizację zajęć dydaktycznych opartą na koncepcji serwerów pomiarowych. Dzięki współużywaniu zasobów pomiarowych uzyskano, zarówno zmniejszenie nakładów finansowych na aparaturę, jak również poprawę własności funkcjonalnych i organizacyjnych pracowni.

Słowa kluczowe

PL

pomiary; urządzenia pomiarowe; laboratorium

• Wydawca: Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Aparatury Badawczej i Dydaktycznej, COBRABiD sp. z.o.o
• Czasopismo: Aparatura Badawcza i Dydaktyczna
• Rocznik: 1998
• Tom: T. 3, nr 1
• Strony: 26--30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Pękala J.

• Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej

autor

Kasprzak B.

• Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej

Bibliografia

• [1] XXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologii, Nałęczów, 10-12 września 1997; str. 77-82.
• [2] B. Kasprzak, J. Pękala: Systemy pomiarowe z interfejsem IEC-625 w środowisku systemu operacyjnego XENIX, PAK 3/1992; str. 49-51.’
• [3] Konferencja: Komputerowe wspomaganie badań naukowych, KOWBAN’94, Wrocław 16-17 grudzień 1994; str. 275-278.
• [4] B. Kasprzak, J. Pękala: Własności użytkowe serwera magistrali IEC-625, PAK 6/1995; str. 157-159.
• [5] II Konferencja: Metrologia Wspomagana Komputerowo, MWK’95, Zegrze k/Warszawy, 22-25 maj 1995; str. 87- 90.
• [6] W. Mielcarek: Szeregowe interfejsy cyfrowe', Helion, Gliwice 1993.
• [7] II Konferencja: Metrologia Wspomagana Komputerowo, MWK’95, Zegrze k/Warszawy, 22-25 maj 1995; str. 79- 86.
• [8] XXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologii; Nałęczów, 10-12 września 1997, str. 551-554.
• [9] XXVII Międzynarodowa Konferencja Metrologii, MKM’95, WSI Zielona Góra, str. 435-440.
• [10] W. Winiecki: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997.