PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2010 | R. 86, nr 9 | 1-4
Tytuł artykułu

Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
EN
Recent trends in electronic circuit diagnostics using testing buses
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedstawiono magistrale testujące przeznaczone do diagnostyki cyfrowych i analogowych układów elektronicznych: IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano wyniki badań nad wykorzystaniem wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 układów SCANSTA400 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych. Badaniami objęto metody pomiaru rezystancji oraz metody pomiaru pojemności i indukcyjności o małym współczynniku stratności. Wykonane badania potwierdziły użyteczność układów SCANSTA400 wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 do wykrywania błędów produkcyjnych, bez konieczności użycia złożonych głowic ostrzowych. Zaprezentowano opracowany w ostatnich miesiącach standard magistrali dwuprzewodowej IEEE 1149.7 a także propozycje standardu IEEE P1581, IEEE 1149.8.1 oraz przedstawiono perspektywy i kierunki dalszego rozwoju magistral testujących.
EN
A review is presented of testing buses designed for the diagnostics of digital and analog electronic circuits: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Diagnostics carried out with the use of the above-mentioned buses is possible at the integrated circuit, packet or system level. Results of tests on the use of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 test bus for testing and fault identification in electronic circuits are also presented. The tests included two methods of resistance measurement and two methods of low-dissipation factor coefficient capacitance and inductance measurement with the use of the IEEE 1149.4 bus. For multielement RLC structures, a method is presented of element identification through the bus, using Tellegen’s Theorem. The tests which were carried out confirmed the usefulness of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 bus for detection of shorts and opens in connections and for determination of the values of passive elements on electronic circuit boards, without the use of complex bed of nails. The advantages and disadvantages of the test buses are discussed and perspectives and directions of their further development for testing, programming and debugging presented.
Wydawca

Rocznik
Strony
1-4
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., schem., tab.
Twórcy
Bibliografia
  • [1] IEEE Std 1149.1-2001 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE, 2001.
  • [2] IEEE Std 1149.4-1999 Standard for a Mixed-Signal Test Bus, IEEE, 1999.
  • [3] Bartosiński B., Measurements of passive components using of an IEEE 1149.4 mixed-signal test bus. 14th IMEKO TC-4 International Symposium, vol. 1, 210-215, Gdynia, 2005.
  • [4] Bartosiński B., Toczek W., Zastosowanie magistrali IEEE 1149.4 do diagnostyki analogowych układów elektronicznych, II International Congress of Technical Diagnostics. Warsaw, 2000 [CD-ROM].
  • [5] IEEE Std 1149.6-2003 Standard for Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks, IEEE, 2003.
  • [6] IEEE Standard 1149.7 Standard for Reduced-pin and Enhanced-functionality Test Access Port and Boundary Scan Architecture, IEEE, 2009.
  • [7] P1581 Working Group, An Economical Alternative to Boundary Scan in Memory Devices, January 2007.
  • [8] IEEE 1149.8.1 Working Group, http://grouper.ieee.org/groups/atoggle/
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOB-0036-0001
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.