PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2006 | Vol. 27, nr 5 | 1077-1080
Tytuł artykułu

Porównanie metod wyznaczania wielkości krystalitów nanomateriałów do zastosowań katalitycznych

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
EN
Comparison of the calculated methods the crystalline size of nanomaterials for catalytic application
Konferencja
Ogólnopolska Konferencja "Nowoczesne Technologie w Inżynierii Powierzchni" (III; 3-6.10.2006; Łódź-Spała, Polska)
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
O własnościach katalitycznych nanomateriałów decyduje ich powierzchnia aktywna, określona wielkością i formą ziaren lub krystalitów materiału. Te ostatnie cechy zdeterminowane są parametrami technologicznymi wytwarzania materiałów, postacią nanomateriałów (cienkie warstwy, nanoproszki), czy też oddziaływaniem domieszek. Problemem metodycznym jest pomiar wielkości ziaren Metodami transmisyjnej mikroskopii elektronowej można uzyskać płaski obraz dyfrakcyjny nanoziaren i ich aglomeratów, ocenić ich kształt i zmierzyć wielkość, ale pomiar dotyczy pojedynczych ziaren i trudno jest tu mówić o ocenie statystycznej. Metody pośrednie oceny wielkości ziaren materiałów oparte na poszerzeniu linii dyfrakcyjnych informują o średniej wielkości krystalitów, ale nie dostarczają informacji o kształcie ziaren i morfologii powierzchni w nanoskali. W pracy porównano wyniki pomiaru wielkości krystalitów metodami pośrednimi i bezpośrednimi, odnosząc je do charakterystyk katalitycznych. Zaproponowano ponadto oryginalny sposób udokładniania wyników pomiaru wielkości krystalitów metodą Scherrera..
EN
Catalytic properties of nanomaterials are determined by their active surface, specified by the size and the form of the material grains or crystallites. The last-mentioned features are determined by the technological parameters of the material producing, shape of nanomaterials (thin films, nanopowders) whether effect of the admixtures. The methodical problem is measurement of the grain size. By means of transmission electron microscopy the flat diffraction picture of the nanograms and their agglomerates can be obtain as well as their shape can be described and size measured. But such measurement concerns only particular grains and it is difficult to make statistical evaluation. The indirect methods of grain size evaluation based on enlargement of the diffraction lines give information of mean size of the crystallites but give not information of grains shape and surface morphology in the nanoscale. In the article authors compared the results of the measurement of the crystallites size by means of direct and indirect methods regarding to the catalytic characteristics. Moreover authors proposed very original method of making the results of the crystallites size measurement by means of Scherrer's method more precise.
Słowa kluczowe
Wydawca

Rocznik
Strony
1077-1080
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
autor
  • Kopia, A. - Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, Akademia Górniczo-Hutnicza
Bibliografia
  • [1] Guinier A. Theorie et techniąue de la radiocrystalographie, Dunod, Paris, 1956
  • [2] Cullity B.D., Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, PWN, Warszawa, 1964
  • [3] Warren B.E., J.Appl. Phys., 12, 375, (1942)
  • [4] Rachinger W.A. J. Sci. Instr., 25, 254, (1949)
  • [5] Stokes A.R., Proc. Phys. Soc. 63A, 477, (1950)
  • [6] Nowakowski P., Praca dyplomowa - Porównanie własności katalitycznych tlenków ceru CeO2 i rutenu RuO2, AGH, Wydz. Metalugii i Inżynierii Materiałowej, 2005, promotor: dr inż. Ireneusz Suliga
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPL8-0002-0080
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.