PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2007 | Vol. 41 | 215-225
Tytuł artykułu

Structure of electrical double layer at the Al2O3-SiO2/electrolyte solution interface

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
PL
Struktura podwójnej warstwy elektrycznej na granicy faz Al2O3-SiO2/roztwór elektrolitu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The structures of the electrical double layer at the Al2O3-SiO2/NaClO4 interface with different alumina-to-silica ratios were interpreted using the surface complexation model. The surface charge and potential ζ of the system has been determined as a function of pH for 0.1, 0.01, and 0.001 mol/dm3 solutions of NaClO4. A significant difference in the pH values of IEP and point of zero charge was observed for Al2O3-SiO2 samples. The ionization and complexation constants have also been determined.
PL
Badania właściwości powierzchniowych tlenków mieszanych są ważne z praktycznego i teoretycznego powodu, ponieważ są szeroko rozpowszechnione w glebach i nowoczesnych technologiach np. jako katalizatory. Struktura podwójnej warstwy elektrycznej na granicy faz Al2O3-SiO2/NaClO4, z różną zawartością objętościową tritlenku glinu w badanych układach została zinterpretowana przy użyciu odpowiedniego modelu pwe. Określono gęstość ładunku powierzchniowego i wartość potencjału dzeta w zależności od pH dla następujących stężeń elektrolitu 0.1, 0.01 i 0.001 mol/dm3 NaClO4.Obliczono stałe jonizacji i kompleksowania metodą optymalizacji numerycznej dla poszczególnych układów oraz porównano wartości gęstości ładunku powierzchniowego wyznaczonego metodą miareczkowania potencjometrycznego do wyznaczonego teoretycznie.
Wydawca

Rocznik
Tom
Strony
215-225
Opis fizyczny
Bibliogr. 22 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
  • Department Radiochemistry and Colloid Chemistry Maria Curie Skłodowska University Pl. M.C. Skłodowskiej 3, 20-031 Lublin, Poland
Bibliografia
  • ADAMSON A.W., GAST A.P., (1997) Physical Chemistry of Surface”, 6th ed., Wiley, New York
  • BRADY P., (1994), „Alumina surface chemistry at 25, 40 and 60°C”, Geochim. Cosmochim. Acta 58, 1213-1221.
  • DAVIS J.A., JAMES R.O., LECKI J.O., (1978), “Surface ionization and complexation at the oxide / water interface. I Computation of electrical double layer properties in simple electrolyte., J. Colloid Interface Sci., 63, 480 - 491.
  • GUN’KO V.M (1989) “Razczjot Parametrov Mikroporistoj Struktury i Isledovanije Poverchnosti Mesopor Uglerodnych Adsorbentov”, Zh. Fiz. Khim., 63, 205.
  • GUN’KO V.M. ZARKOV.I., MIRONYUK I.F., GONCHARUK E.V., GUZENKO N.V., BORYSENKO M.V., GORBIK P.P., MISHCHUK O.A., JANUSZ W., LEBODA R., SKUBISZEWSKA-ZIĘBA J., GRZEGORCZYK W., MATYSEK M., CHIBOWSKI S., (2004) “Surface electric and titration behavior of fumed oxides“, Colloids Surf., A, 240, 9-25.
  • JAMES R.O., PARKS G. A. (1989), Characterization of Aqueous Colloids by Their Electrical Double –Layer and Intrinsic Surface Chemical Properties in. Surface and Colloid Sci. vol.12, p.229 Wiley-Interscience New York.
  • JANUSZ W., 2000 Praca habilitacyjna (D.Sc.thesis), Wydawnictwo UMCS.
  • JUNG M., (2001), “NMR characterization on the preparation of sol-gel derived mixed oxide materials”, Int. J. Inorg. Mater., 3, 471-478.
  • KOSMULSKI M., (1997), “The effect of the ionic strength on the adsorption isotherms of nickel on Silics” J. Colloid Interface Sci., 190, 212-223.
  • KOSMULSKI M., 2001, Chemical Properties of Material Surfaces, Surfactant Sci. Series v. 102, M. Dekker Inc.
  • KUO J.F., YEN T.F., (1988), ”Some aspects in predicting the point of zero charge of a composite oxide system” J. Colloid Interface Sci., 121, 220-225.
  • PARKS G.A., (1967), in: Equilibrium Concepts In Natural Water System, R.F. Gould Ed., ACS Washington DC p. 121.
  • PICKUP D.M., MOUNTJOY G., WALLIDGE G.W., ANDERSON R., COLE J. M., NEWPORT R. J., SMITH M.E., (1999), “A structural study of (TiO2)x(SiO2)1-x(x=0.18, 0.30 and 0.41) xerogels prepared using acetylacetone” J. Mater. Chem., 9, 1299 - 1305.
  • REICHE R., YUBERO F., ESPINOS J.P., GONZALEZ-ELIPE A.R. (2000),”Structure microstructure and electronic characterization of the Al2O3/SiO2 interface by electron spectroscopes” Surface Sci., 457, 199-210.
  • REYMOND J.P., KOLENDA F., (1999), Estimation of the point of zero charge of simple and mixed oxides by mass titration”, Powder Technol. 103, 30-36.
  • SCHWARZ J.A., DRISCOLL C.T., BHANOT A.K., (1983), “The zero point of charge of silica-alumina oxide suspensions”, J. Colloid Interface Sci., 97, 55-61.
  • SCHWARZ J.A., UGBOR C.T., ZHANG R., (1992), “The adsorption / impregnation of a composite oxide system” J. Colloid Interface Sci., 121, 220-225.
  • SCHWARZ J. A., DRISCOLL C.T., BHANOT A. K., (1994); “The zero point of charge of silica-alumina oxide suspensions”, J. Colloid Interface Sci., 97, 55-61
  • SCHWARZENBACH G., ACKERMAN H., (1948), “Komplexone XII. Die Homologen der Äthylendiamine-tetraessigsaure and Ihre Erdalkalikomplexe”, Helv. Chim. Acta, 31, 1029-1038.
  • SEMPELS R., ROUXHET P.G., (1976), “Infrared study of the adsorption of benzene and acetonitryle on silica-alumina gels: Acidity properties and surface heterogeneity.”, J. Colloid Interface Sci, 55, 263-273.
  • SPRYCHA R., (1982), “Determination of electrical charge at Zn2SiO4/solution interface” Colloid Surf., 5, 147-157.
  • SPRYCHA R., (1984), “Estimation of surface ionization constants from electrokinetic data” J. Colloid Interface Sci. 102, 173 - 182.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAT1-0026-0021
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.