PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Czasopismo
2003 | 1 | 3 | 440-452
Tytuł artykułu

Application of the Volterra filter in experimental diffraction data processing

Treść / Zawartość
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The effective signal in x-ray diffraction analysis of material properties often contains high frequency (noise) and low frequency (trend) components as additive parts. It is necessary to extract the effective signal from the noise to ensure high quality of signal processing. Digital filters of Volterra type are proposed for filtering purposes and a comparison of Volterra filtration implemented on x-ray diffraction data versus results from a set of other digital filters is given.
Wydawca

Czasopismo
Rocznik
Tom
1
Numer
3
Strony
440-452
Opis fizyczny
Daty
wydano
2003-09-01
online
2003-09-01
Twórcy
  • Military Academy, Demänovská cesta 1, 03119, Liptovský Mikuláš, Slovak Republic
  • Military Academy, Demänovská cesta 1, 03119, Liptovský Mikuláš, Slovak Republic
Bibliografia
  • [1] M. Meloun and J. Militký: Statistické zpracování exprimentálních dat, PLUS, Praha, 1994.
  • [2] L. Smrčok, M. Ďurík, V. Jorík: “Wavelet denoising of powder diffraction patterns”, Powder Diffraction, Vol. 14, (1999), pp. 300–304. [Crossref]
  • [3] J. Fiala: “Zpracování mených dat filtrací”, Materials Structure, Vol. 4, (1997), pp. 77–83.
  • [4] D. Kocur: Adaptívne Volterrove číslicové filtre. Elfa, Košice, 2001.
  • [5] R. Nowak and B. Van Veen: “Efficient methods for identification of Volterra filter models” Signal Processing, Vol. 38, No. 3, (1994), pp. 417–428. http://dx.doi.org/10.1016/0165-1684(94)90157-0[Crossref]
  • [6] R. Nowak and B. Van Veen: “Tensor product basis approximations for Volterra filters”, IEEE Trans. Signal Processing, Vol. 44, No. 1, (1996), pp. 36–51. http://dx.doi.org/10.1109/78.482010[Crossref]
  • [7] M. Schetzen: The Volterra and Wiener Theories of Nonlinear Systems, Wiley, New York, 1980.
  • [8] S., Jurečka, P. Šutta, M. Havlík: “Fourierova a waveletová filtrácia röntgenových difrakčných profilov”, In: Smery vývoja techniky pozemného vojska, Vojenská akadémia Liptovský Mikuláš, November 29–30, 2000, pp. 204–208.
  • [9] S. Jurečka and M. Havlík: “Porovnanie aproximačných a Fourierovských dekonvolu cnćh metód pri analýze rtg difrakčných profilov”, Materials Structure, Vol. 8, No. 2, (2001), pp. 83–87.
  • [10] J. Nelder and R. Mead: “A simplex method for function minimization”, Computer Journal, Vol. 7, (1965), pp. 308–313 [Crossref]
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.-psjd-doi-10_2478_BF02475855
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.