Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 7

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: wzorce rezystancji

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

100%

Madej, P.

Pomiary Automatyka Robotyka

2006 R. 10, nr 10 72-77

80%

Bartoszewski, J. Kolasa, J.

2004 Vol. 56, nr 24 493-496

PL	Stałość czasowa jest ważnym czynnikiem oceny jakości wzorców. Wzorce rezystancji najwyższej jakości są wykonywane z drutów, taśm lub prętów, najczęściej manganinowych. Właściwości takich wzorców są dobrze poznane. Wzorce rezystancji gorszej jakości mogą być wykonywane z produkowanych na masową skalę[...]
EN	Time stability is the important factor of quality assessment of standards produced from manganin wires, tapes and rods. Properties of these standards are known well. Resistance standards that are worse quality can be made of thin-layer precision resistors produced on large scale. The stability facto[...]

80%

Oe, T. Matsuhiro, K. Itatani, T. Gorwadkar, S. Kiryu, S. Kaneko, N. H.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011 Vol. 52, nr 6 47-49

PL	Wszystkie próbki z kwantową rezystancją Halla (QHR), które stanowią pełną matrycę kwantowego wzorca rezystancji Halla (QHARS), muszą mieć takie parametry, jak stałoprądowy wzorzec rezystancji. Poprawiliśmy procentowy współczynnik uzyskiwania dobrych próbek QHR w procesie wytwarzania wzorca QHARS. Dz[...]
EN	Each quantized Hall resistance (QHR) elements which constitute a perfect quantum Hall array resistance standard (QHARS] device should have suitable performance as a DC resistance standard by itself. We have improved the yield ratio of the QHR device to accomplish the QHARS process. Thereby we have a[...]

51%

Lisowski, M. Krawczyk, K. Kocjan, B.

Pomiary Automatyka Kontrola

2012 R. 58, nr 9 779-781

PL	Proponowany system jest uzupełnieniem zrealizowanego, w ramach projektu badawczego rozwojowego, systemu przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR do wzorców wtórnych o dodatkowy drugi tor. Zapewni to weryfikację uzyskanych wyników, co ma bardzo istotne znaczenie dla pomiarów o na[...]
EN	Authors describe the resistance unit transfer system, from the primary standard QHR to 100 TΩ standards based on Hamon transfers, which they developed (Fig. 1) [5, 6, 8]. Resistance unit is transferred from the QHR to 100 Ω standard with the Cryogenic Current Comparator (CCC), and then w[...]

51%

Kłos, Z.

2004 Vol. 55, nr 17 264--264

PL	Przedstawiono aktualny stan wiedzy na temat pomiarów elektrometrycznych i wzorcowania elektronicznej aparatury elektrometrycznej - pikoamperomierzy DC, mierników ładunku, mierników wielkich rezystancji oraz woltomierzy i wzmacniaczy elektrometrycznych. Dokonano przeglądu współcześnie produkowanej ap[...]
EN	In the monograph, the state of theart in the ares of electrometric measurement and the calibration of electrometric including Dc picoammeters, charge meters, high resistance meters and instrumentation amplifiers has been presented. The monograph consists of three parts. The first part covering Chapt[...]

51%

Lisowski, M. Krawczyk, K. Dudek, E. Mosiądz, M.

Pomiary Automatyka Kontrola

2010 R. 56, nr 11 1290-1293

PL	Przedstawiono ideę systemu przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR (Quantum Hall Resistance) do wzorców o dużych wartościach rezystancji, aż do 100 TΩ. W zakresie do 100 kΩ system ten bazuje na komparatorze kriogenicznym, a od 100 kΩ na transferach Hamona. Tra[...]
EN	An idea of a system for resistance unit transfer from QHR (Quantum Hall Resistance) to high value resistance standards up to 100 TΩ is presented in the paper. Below 100 kΩ this system is based on a cryogenic current comparator, and above 100 kΩ on Hamon transfers. Hamon transfers a[...]

51%

Krawczyk, K.

Przegląd Elektrotechniczny

2012 R. 88, nr 11b 196-198

PL	W pracy opisano hierarchiczny układ przekazywania jednostki rezystancji. Wymienione zostały czynniki wpływające na wyniki pomiarów dużych rezystancji oraz podane zostały przykładowe rozwiązania umożliwiające minimalizacje wpływu tych czynników. Szczegółowo opisano wpływ napięcia na wyniki pomiarów d[...]
EN	In this paper hierarchic system for resistance unit transfer has been described. Factors influencing high resistance measurements have been recognized and possible solutions for minimization of their influence have been shown. Influence of measurement voltage on the resistance measurements have been[...]