Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 2
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  test structure
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
1
100%
Journal of Telecommunications and Information Technology
2005 nr 1 85-93
EN This paper reports a test structure for characterization of a new technology combining a standard CMOS process with pixel detector manufacturing technique. These processes are combined on a single thick-_lm SOI wafer. Preliminary results of the measurements performed on both MOS SOI transistors and [...]
2
51%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL W prezentowanej pracy opisany został stan prac w zakresie implementacji w Instytucie Technologii Elektronowej (ITE) technologii wytwarzania całkowicie zubożonych układów scalonych i struktur CMOS SOI (FD SOI CMOS) opracowanej oryginalnie w Universite catholiqué de Louvain (UCL). Zadanie to jest wyko[...]
EN In the present paper, the current status of work on the transfer of a fully-depleted silicon-on-insulator (FD SOI) CMOS technology from Université catholique de Louvain (UCL) to Instytut Technologii Elektronowej (ITE) is described. This task is carried out within the TRIADE' FP7 project oriented tow[...]
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last