Ograniczanie wyników
Czasopisma help
Lata help
Autorzy help
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 71
first rewind previous Strona / 4 next fast forward last
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mikroskopia sił atomowych
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
1
100%
Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
PL Przedmiotem badań były wyroby z polisiarczku fenylenu otrzymane w wyniku nakładania laserowego tego polimeru na substrat szklany i krzemowy oraz wykonane za pomocą wtrysku. Morfologię struktury powierzchni badano za pomocą mikroskopü sił atomowych. Wyniki badań wskazują, że jakość struktury morfolog[...]
EN The subject of the research was products of polyphenylene sulfde obtained on the way of laser deposition on glass and silicon substrate as well as produced by injection molding technology. The study of structure surface morphology was conducted by atomic force microscopy. Results of researches show [...]
2
100%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL W artykule zaprezentowano nową konstrukcję dźwigni mikroskopu sił atomowych (AFM) wyposażoną w przewodzące, platynowe ostrze pomiarowe. Sekwencja technologiczna wytwarzania przedstawianej sondy integruje wysoką powtarzalność z precyzyjnym postprocessingiem ostrza za pomocą zogniskowanej wiązki jonów[...]
EN In this paper, we present a novel micromachined Atomic Force Microscopy (AFM) micro-cantilever equipped with a sharp, conductive platinum tip. The processing sequence proposed in this article integrates a high reproducibility and precise post processing applying Focused Ion Beam tip modification. Th[...]
3
100%
Aparatura Badawcza i Dydaktyczna
PL Artykuł opisuje makroskopowy model mikroskopu sił atomowych do zastosowań dydaktycznych oraz zaawansowane doświadczenie studenckie realizowane w II pracowni fizycznej Instytutu Fizyki Doświadczalnej Uniwersytetu Wrocławskiego. Autorzy prezentują stanowisko doświadczalne oraz ilustrują przykładowymi [...]
EN This paper presents a macroscopic model of an atomic force microscope. The tool is designed for an advanced physics experiment to be carried out in Physics Laboratory II at the Institute of Experimental Physics, Wrocław University. The authors discuss the process of setting up the experiment and the[...]
4
100%
Archives of Metallurgy and Materials
PL Autorzy zilustrowali sposób w jaki badania topodrafii powierzchni w strefie rowków powstałych na granicy ziaren podczas wysokotemperaturowego wygrzewania metodą mikroskopii sił atomowych, mogą dostarczyć ilościowych informacji z zakresu termodynamiki i kinetyki zjawisk na granicy faz. przedstawione [...]
EN We illustrate how the quantitative information on interfacial thermodynamics and kinetics can be obtained from the post-mortem scanning probe microscopy studies of surface topography in the vicinity of grain boundary grooves formed during high-temperature annealing. The examples include the magnetic[...]
5
100%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL Podstawowym problemem towarzyszącym detekcji sił atomowych w mikroskopii bliskich oddziaływań jest pomiar wielkości elektrycznych proporcjonalnych do nanosiły lub nanowychyleń. Sygnał sondy, odpowiadający bliskiemu oddziaływaniu, narażony jest na wiele zakłóceń w torze pomiarowym. Aby zminimalizować[...]
EN Quartz tuning forks are widely applied in noncontact scanning probe micrcscopy as force sensors. Forces acting at the microtip, which is attached to one of the prong of the tuning fork, are used to describe surface parameters. The amplitude of the osscillation is at thelevelofnanometers, so generate[...]
6
75%
Archives of Materials Science and Engineering
EN The aim of this paper was to investigate changes in surface morphology of thin films of polyazomethine PPI. Thin films were prepared using low-temperature chemical vapor deposition (CVD) method.
7
75%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL Mikroskopia sił atomowych (AFM) [1] jest jedną z podstawowych metod badania powierzchni. Pomimo bardzo szerokiego zastosowania w pomiarach laboratoryjnych w dalszym ciągu nie jest wykorzystywana w przemyśle. Związane jest to przede wszystkim z ograniczeń w szybkości wykonywania pojedynczego pomiaru.[...]
EN Atomic force microscopy (AFM) is one of basic surface measurements methods. It is a uniquely powerful tool for analysis and modification of surface but this method is not used in technological application yet. Current AFM methods are limited to single probes with very slow processing rates and very [...]
8
75%
Przegląd Elektrotechniczny
PL W niniejszym artykule zaprezentowano opracowany moduł diagnostyczny, który pozwolił na rozszerzenie możliwości pomiarowych komercyjnego mikroskopu sił atomowych. Zaimplementowane rozwiązanie sprzętowo-programowe pozwala na detekcję skrętnych wychyleń belki skanującej. W efekcie możliwe jest zrekonst[...]
EN In this paper, the development of diagnostic upgrade for commercial atomic force microscope is presented. By designing and implementing electronic and software solution, the torsional oscillations of the cantilever detection was possible. As the consequence, the force spectroscopy curve could be rec[...]
9
75%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL W celu ilościowego opisu zjawisk zachodzących przy udziale mikromechanicznej dźwigni piezorezystywnej istotna jest znajomość podstawowych jej parametrów metrologicznych takich jak: stała sprężystości, czułość dźwigni na zadane wychylenie, a także właściwości szumowe typu termicznego oraz 1/f. Opisan[...]
EN To obtain quantitative information about interactions between the micromechanical cantilever and its surrounding, it is crucial to determine the principlal metrological cantilever parameters such as: spring constant, response sensitivity for certain deflection and noise properties. In this article a[...]
10
75%
Technical Sciences / University of Warmia and Mazury in Olsztyn
2012 nr 15(2) 307-318
EN The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimate[...]
11
75%
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
12
75%
Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
PL Badano strukturę i dynamikę molekularną nanokompozytu złożonego z amorficznego polisiarczku fenylenu (PPS) i krzemionki amorficznej (Si02) metodami mikroskopü sił atomowych (AFM) i magnetycznego rezonansu jądrowego (NMR). Na podstawie tych badań zaproponowano model lokalizacji krzemionki na powierzc[...]
EN Study of structure and molecular dynamics of amorphous poly(p-phenylene sulide) (PPS)with amorphous silicon dioxide nanocomposite by atomic force microscopy (AFM) and nuclear magnetic resonance (NMR) methods were performed. In support on these study it was proposed the model of silicon dioxide loca[...]
13
75%
Przegląd Elektrotechniczny
2015 R. 91, nr 9 166-169
PL W niniejszej pracy zaprezentowano konstrukcję systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina (ps-KPFM), umożliwiającą mapowanie odpowiedzi elektrycznej powierzchni na pobudzenie optyczne. Przedstawiono kluczowe informacje dotyczące konstrukcji, procedur pomiarowych, jak również[...]
EN In this paper we describe the development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy (ps-KPFM) measurement technique allowing to perform mapping of the electrical response of the material to optical excitation. The general information concerning the principles of the measurement setup and [...]
14
75%
IPPT Reports on Fundamental Technological Research
2016 nr 2 1--58
PL Pomiary własności mechanicznych i sił w mikro i nanoskali mają bardzo ważne znaczenie w badaniach dynamiki i oddziaływań materiałów biologicznych i nanostruktur. Mikroskopia sił atomowych (ang. AFM), z uwagi na swoją czułość, jest najczęściej używaną techniką do bezpośredniego pomiaru sił. Jednak z [...]
EN The role of mechanical properties is essential to understand molecular, biological materials and nanostructures dynamics and interaction processes. Atomic force microscopy (AFM), due to its sensitivity is the most commonly used method of direct force evaluation. Yet because of its technical limitati[...]
15
75%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL W artykule omówiono konstrukcję modularnego mikroskopu "Shear force" z interferometryczną detekcją drgań ostrza skanującego umożliwiającego pomiar właściwości elektrycznych próbki w skali pojedynczych nanometrów. Przedstawiono także wstępne wyniki badań topografii i lokalnego prądu emisji wykonanych[...]
EN We describe here AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular Shearforce/Tunneling Microscope for surface topography measurement and local current emission is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer used for the meas[...]
16
75%
Inżynieria Materiałowa
PL Określono zachowanie się krzemu typu n w warunkach odbiegających od zwykle stosowanych w elektrochemicznym trawieniu w roztworze NH4F. W krzemie typu n z duża. ilością atomów domieszkowych (10^17 ÷ 10^19 cm^-3) w warunkach braku oświetlenia zaobserwowano rozszerzenie i przesunięcie zakresu powstawan[...]
EN Electrochemical etching of n-Si in NH4F solutions was studied at unusually used conditions. In highly doped (10^l7-10^19) cm^-3 n-type silicon etched without illumination, the porous silicon formation was observed (Fig. 1, Fig, 2). The pore formation range was extended and moved toward higher poten[...]
17
75%
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
2018 R. 23, nr 1 18--22
18
75%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL W artykule przedstawiono nową metodę umożliwiającą sterowanie mikroskopem sił atomowych, pracującym w trybie statycznym przy użyciu systemu DSP ADwinPro firmy Keithley. Opisano metodę pomiaru topografii powierzchni z wykorzystaniem cyfrowego regulatora PID pracującego przy wykorzystaniu dwóch wartoś[...]
EN In this article we was introduced a new method of DSP ADwinPro based scanning probe microscopy (SPM) system control. We describe a new two set-point digital PID method elaborated for better control of near field interaction between surface and tip atoms. We show measurement results of nitride alumin[...]
19
75%
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
PL Przedstawiono zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań (ang. Scanning Probe Microscopy - SPM) w miernictwie właściwości mikro- i nanostruktur. Omówiono uwarunkowania eksperymentalne i podstawowe metody, których celem jest przeprowadzenie ilościowej analizy parametrów badanych układów. Zaprezent[...]
EN In this article we describe application of Scanning Probe Microscopy in measurements of micro- and nanostructures. We will describe the experimental setup and principles of methods and techniques, which are devoted to quantitative investigations of nanostructures. In our work we will present the res[...]
20
75%
Journal of Machine Construction and Maintenance. Problemy Eksploatacji
2018 no. 4 41--46
PL Wykonano i zbadano strukturę „Cross-Forrest” służącą do kalibracji kształtu ostrza metodą regularyzowanej ślepej rekonstrukcji. Potwierdzono prezentowane w literaturze wyniki teoretyczne. Wymagało to jednak rozszerzenia algorytmu filtracji obrazów KSVD-OMP o dodatkową funkcję kary w postaci wskaźnik[...]
EN The “Cross-Forrest” tip shape calibration standard for regularized blind tip reconstruction has been fabricated and investigated. The confirmation of previously reported theoretical findings is shown. However, the KSVD-OMP algorithm of images denoising has been extended by additional group sparsity [...]
first rewind previous Strona / 4 next fast forward last