Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: zwierciadło Bragga

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optical characteristics of cavity structures with Al0.2Ga0.8As/Al0.9Ga0.1As distributed Bragg reflectors and In0.37Ga0.63As quantum dots as the active region

Kamiński Bartosz, Zielińska Agata, Musiał Anna, Shih Ching-Wen, Limame Imad, Rodt Sven, Reitzenstein Stephan, Sęk Grzegorz

Przegląd Elektrotechniczny

2023

R. 99, nr 10

294--297

We characterized optically a structure with Al0.2Ga0.8As/Al0.9Ga0.1As distributed Bragg reflector (DBR) based planar cavity with In0.37Ga0.63As/GaAs quantum dots (QDs) in the active region. Optimization of the active region requires identification of the main quenching mechanisms of photoluminescence from QDs. To maximize efficiency of QD emission coupling into the cavity mode, a spectral matching condition between the cavity and the emitter needs to be fulfilled. This was checked by comparing the reflectance spectrum of the cavity with the QD emission spectrum. Reflectivity spectra allowed us to verify the investigated structure by comparing them with simulations.

Scharakteryzowano optycznie strukturę z planarną wnęką optyczną utworzoną przez zwierciadła Bragga z Al0.2Ga0.8As/Al0.9Ga0.1As oraz z kropkami kwantowymi In0.37Ga0.63As/GaAs jako obszarem aktywnym. Optymalizacja obszaru aktywnego wymaga zidentyfikowania głównych mechanizmów wygaszania fotoluminescencji. W celu zapewnienia wysokiego współczynnika sprzęgania emisji do modu wnęki, konieczne jest spełnienie warunku dopasowania spektralnego wnęki i emitera, co określono poprzez porównanie widm odbicia z wnęki optycznej i fotoluminescencji z obszaru aktywnego. Pomiar odbicia pozwolił na zweryfikowanie badanej struktury poprzez porównanie z symulacją.

Zastosowanie spektroskopii odbiciowej w dalekiej podczerwieni do charakteryzacji zwierciadeł Bragga z AlAs/GaAs

Możdżonek M., Gaca J., Wesołowski M.

Materiały Elektroniczne

2012

T. 40, nr 2

11-16

Metodę spektroskopii odbiciowej w zakresie dalekiej podczerwieni zastosowano do badań zwierciadeł Bragga wykonanych z AlAs/GaAs na podłożu GaAs. Pomiary widm odbicia zwierciadeł zostały wykonane dla różnych kątów padania fali na próbkę oraz z polaryzacją fali s i p. Otrzymane z pomiarów widma analizowane były numerycznie, poprzez dopasowanie widma teoretycznego do widma zmierzonego. Klasyczną teorię dyspersji zastosowano do wyznaczenia funkcji dielektrycznych związków GaAs i AlAs . Z dopasowania widm wyznaczono grubości warstw wchodzących w skład badanej struktury oraz określono koncentracje nośników w warstwach. Wyniki pracy pokazują, że za pomocą widm odbicia z dalekiej podczerwieni można dokonać charakteryzacji zwierciadeł Bragga wykonanych z GaAs/AlAs.

We present a study of GaAs/AlAs Bragg mirrors grown on GaAs substrates. Far-infrared reflectivity spectra were measured using polarized oblique-incidence Fourier transform spectroscopy. The optics of the features observed were analyzed, with respect to a given resonance mode. The far-infrared spectra were numerically modelled within a classical dispersion theory and then compared with the experimental data. The thicknesses of the layers and the free carrier concentration were determined when the best agreement between experimental and calculated spectra was reached. The results demonstrate that the oblique incidence far-infrared reflectance techniques can be applied to the characterization of GaAs/AlAs Bragg mirrors.