Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  wavelength stabilization
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
A novel laser diode based length measuring interferometer for scientific and industrial metrology is presented. Wavelength the stabilization system applied in the interferometer is based on the optical wedge interferometer. Main components of the interferometer such as: laser diode stabilization assembly, photodetection system, measuring software, air parameters compensator and base optical assemblies are described. Metrological properties of the device such as resolution, measuring range, repeatability and accuracy are characterized.
PL
Przedstawiono metodę pomiarową i wyniki badań nowego interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowi stabilizowany termicznie klin optyczny. Testowano stabilność różnicy dróg optycznych etalonu przy stałej i zmiennej temperaturze otoczenia. Jako wzorzec częstotliwości wykorzystano stabilizowany częstotliwościowo laser HeNe. Zaprezentowano metodykę badań, sposób przeprowadzenia eksperymentu oraz analizę i interpretację otrzymanych wyników.
EN
Experimental tests of the interference etalon designed for laser diode frequency stabilization are presented. A thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. A special type of the etalon glass and applied thermal stabilization of the wedge should ensure the constant value of the etalon optical path difference (OPD) during changes of the ambient temperature. The aim of the presented study was to determine the change of the etalon temperature and its OPD as a function of the ambient temperature changes. At the beginning, measurements of the ambient temperature influence on the temperature indicated by a thermistor that controls the etalon temperature were taken. The experiments were carried out in a thermal chamber. The chamber temperature was changed by 12°C. The obtained thermal stabilization of the etalon thermistor can be characterized by the coefficient of the relative ambient temperature impact equal to about 1.6x10-5/K. A He-Ne wavelength stabilized laser was used as the frequency reference for testing the OPD stability during changes of the ambient temperature. Instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon was observed. The obtained relative thermal change of the etalon OPD is equal to 5x10-9/°C of the ambient temperature change. Basing on the obtained coefficient and knowing the ambient temperature it is possible to apply numeric compensation of the laser wavelength. The obtained results are very satisfactory considering the simplicity of the system.
PL
W artykule przedstawiono praktyczną realizację urządzenia nadawczego z precyzyjnie stabilizowaną długością fali przeznaczonego dla systemu transmisji czasu i częstotliwości za pomocą światłowodu. Urządzenie skonstruowano w oparciu o moduł półprzewodnikowego lasera telekomunikacyjnego zintegrowanego z etalonem optycznym. Prezentowane wyniki potwierdzają, praktyczną przydatność urządzenia, a uzyskana stabilność długości emitowanej fali wynosi około 1pm.
EN
In the paper we describe the practical solution of the precise laser wavelength stabilization module, dedicate to the fiber-optic time and frequency transfer system. The design of the wavelength control system based on the optical etalon is described, and the obtained results are presented. The achieved wavelength stability is about 1 pm. These devices can by successfully applied io the time/frequency transfer system using optical fiber.
PL
W artykule przedstawione zostały metoda pomiarowa i wyniki badań interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowił stabilizowany termicznie klin optyczny. W badaniach jako wzorzec częstotliwości wykorzystano stabilizowany częstotliwościowo laser He-Ne. W trakcie przeprowadzonych doświadczeń obserwowana była niestabilność fazy prążków powstałych w etalonie przy zmiennej temperaturze otoczenia. Uzyskano względną termiczną zmianę różnicy dróg optycznych etalonu na poziomie 2⋅10⁻⁸/°C zmiany temperatury otoczenia.
EN
Measuring method and experimental results of the interference etalon designed for the purpose of laser diode frequency stabilization is presented. Thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. He-Ne wavelength stabilized laser has been used as the frequency reference. During experiments instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon has been observed when the ambient temperature was changed. The obtained relative thermal change of the optical path difference of the etalon is equal to 2⋅10⁻⁸/°C of the ambient temperature change.
EN
We propose stabilization of a laser diode output wavelength by using external interferometer that measures wavelength changes and controls laser diode supplying current in an feedback loop. In this control interferometer constant optical path difference is kept by applying material that is characterized by a nearly zero temperature expansion coefficient. Due to that only the wavelength changes cause displacement of the interference fringes. These fringes movements are converted into electrical signal that controls LD laser diode current in such a way to move the fringes to its original position.
PL
Proponujemy stabilizację długości fali światła diody laserowej poprzez zastosowanie zewnętrznego interferometru, który mierzy zmiany długości fali i steruje prądem zasilania lasera w pętli sprzężenia zwrotnego. W interferometrze kontrolnym utrzymana jest stała różnica dróg geometrycznych biegu interferujących wiązek przez zastosowanie materiału o w przybliżeniu zerowym współczynniku rozszerzalności termicznej. Dzięki temu tylko zmiany długości fali światła mogą spowodować przemieszczanie się prążków w interferometrze kontrolnym. Prążki te przetwarza się na sygnał elektryczny, który steruje w układzie sprzężenia zwrotnego prądem zasilania lasera w ten sposób, by przemieszczenie prążków w układzie kontrolnym było jak najmniejsze.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.