PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 18 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
  2. 10 Materials Science Poland
  3. 10 Polimery
  4. 7 Optica Applicata
  5. 7 Tribologia
Więcej...
Autorzy help
  1. 11 Sikora A.
  2. 9 Gotszalk T.
  3. 7 Grabiec P.
  4. 5 Bednarz Ł.
  5. 5 Janus P.
Więcej...
Lata help
  1. 3 2016
  2. 6 2015
  3. 8 2014
  4. 8 2013
  5. 9 2012
Więcej...
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 100

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 5 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  atomic force microscopy (AFM)
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 5 next fast forward last
1
Content available Analiza polimerowych membran nanofiltracyjnych za pomocą nowoczesnych technik badawczych
Kowalik-Klimczak A., Bednarska A., Grądkowski M., Gierycz P.
Polimery
|
2016
|
T. 61, nr 5
339--346
PL
Za pomocą nowoczesnych technik analizy powierzchni, takich jak: pomiary potencjału zeta, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych oraz rentgenowska spektroskopia fotoelektronów, zbadano dwa rodzaje membran polimerowych przeznaczonych do nanofiltracji. Stwierdzono, że ww. techniki analityczne umożliwiają komplementarne określenie właściwości fizykochemicznych powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych, a tym samym ułatwiają dobór membrany do określonego zastosowania.
EN
In the paper, two types of nanofiltration polymeric membranes are examined using modern techniques including zeta potential measurement, scanning electron microscopy, atomic force microscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The authors argue that the presented techniques are suitable for the complementary determination of physicochemical properties of polymeric nanofiltration membranes and consequently give information necessary for the proper selection of amembrane for a particular application.
2
Content available remote Scanning capacitance microscopy characterization of AIIIBV epitaxial layers
Szyszka A., Obłąk M., Szymański T., Wośko M., Dawidowski W., Paszkiewicz R.
Materials Science Poland
|
2016
|
Vol. 34, No. 4
845--850
EN
The applicability of scanning capacitance microscopy (SCM) technique for chosen electrical properties characterization of AIIIBV structures fabricated by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy (MOVPE) was examined. The calibration curves for quantitative characterization of doping levels in GaAs layers were created. The AlGaN/GaN/Si heterostructures for high electron mobility transistor fabrication and InGaAs tunnel junction for tandem solar cell characterization were presented. The crucial factors of measurement conditions which could influence the obtained results were also discussed.
3
Content available Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Zembrzycki K., Pawłowska S., Nakielski P., Pierini F.
IPPT Reports on Fundamental Technological Research
|
2016
|
nr 2
1--58
EN
The role of mechanical properties is essential to understand molecular, biological materials and nanostructures dynamics and interaction processes. Atomic force microscopy (AFM), due to its sensitivity is the most commonly used method of direct force evaluation. Yet because of its technical limitations this single probe technique is unable to detect forces with femtonewton resolution. In this paper, we present the development of a combined atomic force microscopy and optical tweezers (AFM/OT) instrument. The system is based on a commercial AFM and confocal microscope. The addition of three lasers along with beam shaping and steering optics, on which the optical tweezer is based upon, provide us with the ability to manipulate small dielectric objects suspended in a fluid. Additionally, this same device allows for direct displacement and force measurement with very high resolution and accuracy in the same AFM scanning zone. We have also fitted a laser and a set of filters to observe fluorescent samples appropriately exited. We show that this is a great improvement of a standalone AFM force resolution and more so opens a way to conduct experiments using a hybrid double probe technique with high potential in nanomechanics, molecules manipulation and biological studies. This paper describes in detail the construction of all the modules such as the trapping laser optics, detection laser optics and the fluorescence module. Also, due to its importance on the performance of the equipment, the electronics part of the detection system is described. In the following chapters the whole adjustment and calibration is explained. The performance of the apparatus is fully characterized by studying the ability to trap dielectric objects and quantifying the detectable and applicable forces. The setting and sensitivity of the particle position detector and force sensor is shown. We additionally describe and compare different optical tweezer calibration methods. In the last part we show the ability of our instrument to conduct experiments using the proposed double-probe technique, in this case to study interaction forces between two particles.
PL
Pomiary własności mechanicznych i sił w mikro i nanoskali mają bardzo ważne znaczenie w badaniach dynamiki i oddziaływań materiałów biologicznych i nanostruktur. Mikroskopia sił atomowych (ang. AFM), z uwagi na swoją czułość, jest najczęściej używaną techniką do bezpośredniego pomiaru sił. Jednak z powodu swoich ograniczeń nie jest w stanie mierzyć sił z rozdzielczością w zakresie femtonewtonów. Takie możliwości stwarza metoda optyczna oparta na tzw. szczypcach optycznych (ang. OT). Z drugiej strony z uwagi na fizyczne ograniczenia tej metody pomiary charakteryzujące oddziaływujące powierzchnie w niewielkich odległościach, nadal wymagają stosowania mikroskopii sił atomowych. W poniższej pracy opisujemy unikalną konstrukcję hybrydową bazującą na połączeniu obu technik w jednym systemie. Skonstruowany system (AFM/OT) oparty jest na autorskiej modyfikacji komercyjnego mikroskopu AFM (firmy NT-MDT) i jest możliwy do zastosowania zasadniczo w każdym innym dostępnym na rynku mikroskopie typu AFM. Modyfikacja polega zasadniczo na budowie dodatkowego systemu optycznego formującego wiązki trzech laserów, na których bazują szczypce optyczne. Umożliwia to manipulację małymi obiektami dielektrycznymi zawieszonymi w płynie i precyzyjną detekcję ich położenia. Dzięki takiej modyfikacji stworzony system AFM/OT pozwala na bezpośrednie pomiary przemieszczenia oraz siły z bardzo dużą rozdzielczością i dokładnością w obszarze działania sondy AFM. Dodatkowo system został wyposażony w laser i elementy optyczne pozwalające na pobudzanie i detekcję fluorescencji odpowiednio przygotowanych obiektów. Wykazujemy, że ten instrument istotnie poprawia zakres i rozdzielczość sił mierzonych za pomocą standardowego mikroskopu AFM, jak również otwiera drogę do przeprowadzania eksperymentów z użyciem hybrydowej techniki dwóch sond, mającej wysoki potencjał zastosowań w nanomechanice, badaniach biologicznych i nanomanipulacji. Niniejsza praca przedstawia szczegóły konstrukcyjne zbudowanych modułów szczypiec optycznych, jak i układ elektroniczny pozwalający na precyzyjne pomiary przemieszczeń obiektów uwięzionych przez szczypce optyczne. W kolejnych partiach pracy przedstawiona jest procedura dostrajania układu optycznego i metodyka kalibracji systemu pomiaru sił i przemieszczeń. Podstawowe parametry aparatury zostają w pełni scharakteryzowane poprzez zbadanie jej zdolności do manipulacji dielektrycznymi obiektami oraz do mierzeni wywieranych na nie sił. Dodatkowo przedstawiamy opis i porównanie różnych metod kalibracji szczypiec optycznych. W ostatniej części pracy przedstawiamy na przykładzie pomiaru oddziaływań bliskiego kontaktu dwóch cząstek koloidalnych potencjał naszego instrumentu dla przeprowadzania pomiarów z jednoczesnym użyciem techniki dwóch sond (AFM/OT).
4
Content available remote Development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy setup. The tool for nanoscale diagnostic of optoelectrical properties of the surface
Sikora A., Bednarz Ł.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2015
|
R. 91, nr 9
166-169
EN
In this paper we describe the development of the photostimulated Kelvin Probe Force Microscopy (ps-KPFM) measurement technique allowing to perform mapping of the electrical response of the material to optical excitation. The general information concerning the principles of the measurement setup and the data acquisition procedures as well as the examples of collected data is shown. In particular, the solution allowing to perform a number of measurements according to specific protocol is here sescribed. The developed system is capable of delivering the information about the electrical properties changes due to the specific light wawelength illumination of LED’s in range from 390 nm to 940 nm as well as for the xenon lamp.
PL
W niniejszej pracy zaprezentowano konstrukcję systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina (ps-KPFM), umożliwiającą mapowanie odpowiedzi elektrycznej powierzchni na pobudzenie optyczne. Przedstawiono kluczowe informacje dotyczące konstrukcji, procedur pomiarowych, jak również zaprezentowano przykłady wyników pomiarowych. Do szczególnych cech opisanego układu należy możliwość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem wcześniej opracowanych protokołów. Zbudowany układ pomiarowy umożliwia uzyskanie informacji o optoelektrycznych właściwościach powierzchni dla pobudzenia źródłami światła LED w przedziale od 390 nm do 940 nm oraz lampą ksenonową.
5
Content available remote Surface morphology of titanium nitride thin films synthesized by DC reactive magnetron sputtering
Talu S., Stach S., Valedbagi S., Elahi S. M., Bavadi R.
Materials Science Poland
|
2015
|
Vol. 33, No. 1
137--143
EN
In this paper the influence of temperature on the 3-D surface morphology of titanium nitride (TiN) thin films synthesized by DC reactive magnetron sputtering has been analyzed. The 3-D morphology variation of TiN thin films grown on p-type Si (100) wafers was investigated at four different deposition temperatures (473 K, 573 K, 673 K, 773 K) in order to evaluate the relation among the 3-D micro-textured surfaces. The 3-D surface morphology of TiN thin films was characterized by means of atomic force microscopy (AFM) and fractal analysis applied to the AFM data. The 3-D surface morphology revealed the fractal geometry of TiN thin films at nanometer scale. The global scale properties of 3-D surface geometry were quantitatively estimated using the fractal dimensions D, determined by the morphological envelopes method. The fractal dimension D increased with the substrate temperature variation from 2.36 (at 473 K) to 2.66 (at 673 K) and then decreased to 2.33 (at 773 K). The fractal analysis in correlation with the averaged power spectral density (surface) yielded better quantitative results of morphological changes in the TiN thin films caused by substrate temperature variations, which were more precise, detailed, coherent and reproducible. It can be inferred that fractal analysis can be easily applied for the investigation of morphology evolution of different film/substrate interface phases obtained using different thin-film technologies.
6
Content available remote Multifractal characteristics of titanium nitride thin films
Talu S., Stach S., Valedbagi S., Bavadi R., Elahi S. M., Talu M.
Materials Science Poland
|
2015
|
Vol. 33, No. 3
541--548
EN
The study presents a multi-scale microstructural characterization of three-dimensional (3-D) micro-textured surface of titanium nitride (TiN) thin films prepared by reactive DC magnetron sputtering in correlation with substrate temperature variation. Topographical characterization of the surfaces, obtained by atomic force microscopy (AFM) analysis, was realized by an innovative multifractal method which may be applied for AFM data. The surface micromorphology demonstrates that the multifractal geometry of TiN thin films can be characterized at nanometer scale by the generalized dimensions Dq and the singularity spectrum f(α). Furthermore, to improve the 3-D surface characterization according with ISO 25178-2:2012, the most relevant 3-D surface roughness parameters were calculated. To quantify the 3 D nanostructure surface of TiN thin films a multifractal approach was developed and validated, which can be used for the characterization of topographical changes due to the substrate temperature variation.
7
Content available remote Morphological features in aluminum nitride epilayers prepared by magnetron sputtering
Stach S., Dallaeva D., Talu S., Kaspar P., Tomanek P., Giovanzana S., Grmela L.
Materials Science Poland
|
2015
|
Vol. 33, No. 1
175--184
EN
The aim of this study is to characterize the surface topography of aluminum nitride (AlN) epilayers prepared by magnetron sputtering using the surface statistical parameters, according to ISO 25178-2:2012. To understand the effect of temperature on the epilayer structure, the surface topography was investigated through atomic force microscopy (AFM). AFM data and analysis of surface statistical parameters indicated the dependence of morphology of the epilayers on their growth conditions. The surface statistical parameters provide important information about surface texture and are useful for manufacturers in developing AlN thin films with improved surface characteristics. These results are also important for understanding the nanoscale phenomena at the contacts between rough surfaces, such as the area of contact, the interfacial separation, and the adhesive and frictional properties.
8
Content available TEM & AFM - Complementary Techniques for Structural Characterization of Nanobainitic Steel
Dworecka J., Jezierska E., Rębiś J., Rożniatowski K., Świątnicki W.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2015
|
Vol. 60, iss. 3A
1591--1593
EN
The aim of this study was to analyse and to identify the phases which formed in 100CrMnSi6-4 bearing steel after the nanostructuring heat treatment. Especially designed thermal treatment parameters were applied in order to obtain a nanobainitic structure. Two different microscopic techniques were used for the precise examination of the microstructures obtained: transmission electron microscopy (TEM) and atomic force microscopy (AFM). Both analyses confirm that the examined steel has a nanocrystalline structure. However, it was discovered that the selected analysis methods affected the results of the plate thickness measurements.
PL
Celem pracy była analiza struktury i identyfikacja faz powstałych podczas procesu nanostrukturyzacji stali łożyskowej 100CrMnSi6-4. Chcąc wytworzyć strukturę nanobainityczną przeprowadzono obróbkę cieplną o specjalnie dobranych parametrach. Następnie wykonano precyzyjną analizę otrzymanej mikrostruktury wykorzystując w tym celu dwie zaawansowane techniki mikroskopowe: transmisyjną mikroskopię elektronową (TEM) oraz mikroskopię sił atomowych (AFM). Badania wykonane obiema technikami potwierdziły, że badano stal o strukturze nanobainitycznej. Wykazano też, że zależnie od zastosowanej techniki badawczej otrzymano różnice w wartościach zmierzonych grubościach elementów struktury.
9
Content available Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
Duda M., Frączkowska K., Przybyło M., Kopaczyńska M.
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
|
2015
|
Vol. 21, nr 1
1--8
PL
Terapia genowa jest obecnie bardzo dynamicznie rozwijającą się techniką biomedyczną, która może znaleźć zastosowanie w medycynie w leczeniu chorób przewlekłych i dziedzicznych. Badania skupiają się na opracowywaniu nowych strategii dotyczących procesów kondensacji i ochrony materiału genetycznego (DNA) wprowadzanego do komórki docelowej. Struktura i stopień upakowania dostarczanego DNA wpływają na kluczowe właściwości fizykochemiczne, determinujące czy wprowadzony wektor rekombinowany ulegnie ekspresji, czy też degradacji. Związki chemiczne, zwane czynnikami kondensującymi, to substancje powodujące zwinięcie DNA, a stopień kondensacji materiału genetycznego zależy bezpośrednio od rodzaju i stężenia użytego czynnika kondensującego. Do cząsteczek wykazujących właściwości kondensujące należą poliaminy, w opisywanym eksperymencie zastosowano poliaminę – spermidynę. Przeprowadzone badania miały na celu charakterystykę nanostrukturalną materiału genetycznego pod wpływem działania czynnika kondensującego. W wyniku analizy wykonanej za pomocą mikroskopii sił atomowych (AFM) wykazano, że plazmid DNA ulega kondensacji pod wpływem spermidyny, formując struktury rozetowe.
EN
Gene therapy is a new promising method that may find many applications in modern biomedicine. Especially, it may be a powerful tool in chronic and hereditary diseases treatment. Current studies focus on development of novel strategies concerning genetic material (DNA) condensation and protection, whilst it is introduced into the cellular nucleus. Once the DNA enters the cell, it’s either passed on and expressed in the nucleus or degraded by intracellular nucleases. The structure and the degree of compaction influence physicochemical properties that determine what will happen to delivered genetic material. DNA coiling can be caused by chemical compounds called compaction agents, such as polyamines like spermidine used in this study. The aim of this research was to examine the nanostructural characteristics of genetic material exposed to compaction agent. The measurements and analysis performed by atomic force microscopy (AFM) indicate that DNA plasmid undergoes condensation and forms rosette-like structures once subjected to spermidine.
10
Content available Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
Kowalik-Klimczak A., Gierycz P.
Problemy Eksploatacji
|
2014
|
no. 3
17--25
EN
In this study, the possibility of using an atomic force microscopy to analyse the surface structure of the polymeric nanofiltration membranes was investigated. Analysis of the obtained results allowed one to conclude that the size of the scanned surface directly affects the measurement result of both the average and root-mean-square roughness of tested membranes. Therefore, it is necessary to compare the results obtained for the same size of the scanned surface.
PL
W pracy zbadano możliwość zastosowania mikroskopu sił atomowych do analizy struktury powierzchni polimerowych membran nanofiltracyjnych. Analiza uzyskanych wyników pozwoliła na stwierdzenie, że wielkość skanowanej powierzchni bezpośrednio wpływa na wynik pomiaru zarówno chropowatości średniej arytmetycznej, jak i kwadratowej testowanych membran. Konieczne jest zatem porównywanie wyników uzyskanych dla takich samych wielkości skanowanej powierzchni.
11
Content available remote Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych
Drewniak S., Pustelny T., Strupiński W., Pasternak I., Opilski Z.
Prace Naukowe Politechniki Śląskiej. Elektryka
|
2014
|
z. 2-3
63--72
PL
Zanieczyszczenie środowiska pociąga za sobą konieczność monitoringu wybranych atmosfer gazowych. W niniejszym artykule zostaną przedstawione wyniki charakteryzacji warstwy gazoczułej (grafenu) w rezystancyjnym czujniku cienkowarstwowym, pozwalającym wykrywać niskie zawartości wodoru oraz dwutlenku azotu w atmosferze powietrza syntetycznego. Zostaną przedstawione m.in. obrazy topografii powierzchni oraz widma ramanowskie struktury. Analizowane będą zmiany, jakie zachodzą w strukturze (obserwowane na widmach ramanowskich) pod wpływem jej kontaktu z atmosferą zawierającą 3% wodoru.
EN
The environmental pollution entails the monitoring of selected gas atmospheres. In this paper, the results of characterization the thin film resistance sensor (characterization of grapheme - sensitive layer) will be presented. Such sensor can detect the hydrogen and nitrogen dioxide in the atmosphere of synthetic air at a very low level. There will be presented, among others, the images of topography and raman’s spectras of the structures. There will be analyzed changes which occure in the structure (observed at the Raman’s spectra) due to its contact with the atmosphere containing 3% hydrogen.
12
Content available remote Wiarygodność i użyteczność wybranych metod pomiarów mikrogeometrii powierzchni do oceny powierzchni z teksturą wykonaną laserem pikosekundowym
Adamczak S., Świderski J.
Mechanik
|
2014
|
R. 87, nr 8-9CD1
408-415
PL
W nowoczesnych rozwiązaniach technicznych coraz częściej wykorzystywana jest technologia laserowego teksturowania powierzchni polegająca na wytwarzaniu powtarzalnych mikrowgłębień na powierzchni elementów maszyn. Celem stosowania tekstury jest najczęściej poprawa właściwości smarnych powierzchni, intensyfikacja wymiany ciepła, zmniejszenie zużycia współpracujących części. Ocena prawidłowości przeprowadzonej mikroobróbki laserowej wymaga weryfikacji poprzez pomiary struktury geometrycznej powierzchni. W opracowaniu przedstawiono możliwości i ograniczenia w stosowaniu wybranych metod pomiaru tekstury składającej się z mikropor o różnej geometrii.
EN
Laser surface texturing, one of the most common surface engineering solutions today, is a process of creating patterned microstructures on the surface of machine parts. The technique is applied mainly to improve the tribological properties of the surface, enhance heat transfer and reduce wear of the elements in contact. To assess the correctness of the micromachining process, it is necessary to measure the surface texture. The paper discusses the benefits and drawbacks of different methods of measurement of micropore geometries in the texture produced with a picoseconds laser.
13
Content available remote Studies of CdI2-Bi3 microstructures with optical methods, atomic force microscopy and positron annihilation spectroscopy
Karbovnyk I., Bolesta I., Rovetskii I, Velgosh S, Klym H.
Materials Science Poland
|
2014
|
Vol. 32, No. 3
391--395
EN
Results of the comprehensive morphological study of CdI2–BiI3 layered crystals are presented. Direct AFM observations of micro- and nanostructures formed in the volume of the crystals confirm the predictions made on the basis of positron annihilation spectroscopy studies. The model explaining the possible pores formation mechanism is proposed and validated by the results of luminescence measurements at 8 K.
14
Przestrzennie skorelowana, submikrometrowa analiza właściwości morfologicznych, mechanicznych i chemicznych kompozycji epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką
Sikora A., Bednarz Ł., Warycha J., Moroń L.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2014
|
Vol. 55, nr 10
14-16
PL
Submikrometrowe badania nanomateriałów są źródłem cennych informacji o ich unikatowych właściwościach. Jednak ze względu na często występujące niejednorodności materiałów, w zależności od lokalizacji wykonanych pomiarów, różnice między uzyskanymi wynikami mogą wynosić nawet kilkaset procent, istotnie utrudniając uzyskanie spójnych i miarodajnych rezultatów pomiarów przeprowadzanych z wykorzystaniem wielu metod i narzędzi diagnostycznych. Wobec powyższego konieczne jest zastosowanie łatwych w implementacji rozwiązań, pozwalających na skuteczną korelację przestrzenną uzyskanych wyników. W niniejszej pracy zaprezentowano zastosowanie nanomarkerów, wytwarzanych za pomocą sondy mikroskopu sił atomowych, w wieloetapowym procesie pomiarowym. Wykorzystanie wytworzonych nanostruktur umożliwiło przeprowadzenie analizy właściwości morfologicznych, mechanicznych oraz chemicznych kompozycji ściśle określonych struktur próbki epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką.
EN
Submicron investigations of the nanomaterials are the source of valuable data about their unique properties. However, due to often nonhomogeneities of the materials, the results of local properties measurements may vary even few hundred percents as various areas are analyzed. Therefore one needs the solution that would be easy to implement and provide effective positioning of the sample in order to obtain coherent and reliable outcome of the measurements carried out using various methods and diagnostic methods. In this work the utilization of the nanomarkers developed with the atomic force microscopy probe for multi-stage measurement procedure is presented. The application of the developed nanostructures allowed to perform spatially correlated analysis of the morphological, mechanical and chemical properties of the epoxy matrix with nanosilicate filler.
15
Content available remote Analiza morfologii elektrod stosowanych w barwnikowych ogniwach słonecznych
Zdyb A., Lichograj P.
Czasopismo Inżynierii Lądowej, Środowiska i Architektury / Journal of Civil Engineering, Environment and Architecture
|
2014
|
z. 61, nr 3/II
541--546
PL
W pracy przeprowadzono badania mikroskopowe warstw nanocząstek ditlenku tytanu (TiO2) osadzonych na szkle. Tego typu struktury stosowane są jako pokrycia oświetlanej elektrody w barwnikowych ogniwach słonecznych. W budowie i funkcjonowaniu ogniwa elektroda ta jest najważniejszym elementem. Składa się ona ze szkła z warstwą przewodzącą ITO (indium tin oxide) oraz naniesionych na nią nanocząstek TiO2 z zaadsorbowanymi na powierzchni cząsteczkami barwnika organicznego. Warstwa nanocząstek, dzięki temu, że jest mezoporowata, zwiększa powierzchnię czynną w absorpcji światła. Ditlenek tytanu absorbuje promieniowane słoneczne jedynie w nadfiolecie. Zastosowanie barwnika zapewnia absorpcję światła w szerszym zakresie widma. W pracy, warstwy ditlenku tytanu otrzymywano po rozprowadzeniu nanocząstek różnych rodzajów z dodatkiem kwasu octowego lub a-terpineolu. Otrzymane struktury były wygrzewane w temperaturze 450°C w celu uzyskania lepszego kontaktu między nanocząstkami i poprawy trwałości warstwy. Do obrazowania warstw wykorzystany został mikroskop sił atomowych oraz skaningowy mikroskop elektronowy. Urządzenia te pozwalają uzyskać rozdzielczości odpowiednio: ok. 20 nm i 0,2 mim. Zastosowanie nanocząstek pochodzących z firmy Sigma Aldrich oraz EasyChem pozwoliło na otrzymanie jednorodnych warstw o rozmiarach aglomeratów 0,2-0,3 mim. Wykorzystanie nanocząstek z firmy Degussa, często opisywane w literaturze, nie dało zadowalających rezultatów przy zastosowaniu przedstawionych w pracy metod przygotowania zawiesiny. Naniesienie barwnika organicznego (alizaryny) na badane powierzchnie warstw nanoczastek nie zmienia w znaczącym stopniu uzyskanych obrazów mikroskopowych.
EN
The paper presents microscopic study of the titanium dioxide nanoparticles layers deposited on glass plates. This type of structures finds application as illuminated electrode coatings in dye-sensitized solar cells. Dye-sensitized solar cells (DSSC) have many advantages and their efficiency reached 12%, the same value as for amorphic silicon cells that are very popular in the photovoltaic market. The main part of the structure of DSSC that influences the performance of the cell is illuminated electrode which consists of glass plate with conducting ITO (indium tin oxide) layer and titanium dioxide nanoparticles covered by dye molecules. The mesoporous nanoparticle layer has high surface to volume ratio and enhances the process of light absorption. Titanium dioxide, which absorbs only ultraviolet part of solar radiation is sensibilized by dye to visible light. In this work, titanium dioxide layers were obtained by spreading of different kinds of nanoparticles (coming from various sources) in acetate acid or a-terpineol. The obtained structures were anealed in the temperature of 450°C in order to achieve better contact between nanoparticles and increase durability of the layers. The atomic force microscope and scanning electron microscope were used to obtain images of the surface. These two devices allow gaining resolution of 20 nm i 0,2 mim respectively. The homogenous layers of 0,2-0,3 mim aglomerates were obtained by using edible nanoprticles and the ones from Sigma Aldrich. Using of nanoparticles from Degussa, often described in the literature, and applying presented in this work methods of colloid preparation did not provide satisfactory results.
16
Content available Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Bramowicz M., Kulesza S., Czaja P., Maziarz W.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2014
|
Vol. 59, iss. 2
451--457
EN
Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.
PL
Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.
17
Content available Description of Surface Topography of Metal Matrix Composite Castings
Gawdzińska K., Bryll K., Gucma M., Pijanowski M.
Archives of Foundry Engineering
|
2014
|
Vol. 14, iss. 1 spec.
169--174
EN
The paper presents studies of topography of the metal matrix composite castings using profilography, confocal microscopy and atomic force microscopy. The examined materials were composites from the ex-situ group, manufactured by the saturation of reinforcement (aluminosilicate or carbon) with the liquid aluminum alloy (AlSi9 or AlSi11). The materials were observed on the various surface state, resulting from different stages of preparation of the polished section for the metallographic between the composite matrix and reinforcement.
18
Content available remote The elemental composition, topography and wettability of Pb0.25Sn1.75S2 thin films
Tashlykov I., Turavets A., Gremenok V., Zhukowski P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 3b
285--287
EN
PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation (HWVE) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of Rutherford backscattering spectroscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively.
PL
Cienkie wartwy PbSnS były wytwarzane metodą naparowania (HWVE). Badano wpływ temperatury podłoża na właściwości warstwy metodą spektroskopii Rutherforda i mikroskopem sił atomowych .
19
Content available A measurement system for nonlinear surface spectroscopy with an atomic force microscope during corrosion process monitoring
Babicz S., Zieliński A., Smulko J., Darowicki K.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2013
|
R. 59, nr 4
287--291
EN
In addition to traditional imaging of the surface, atomic force microscopy (AFM) enables wide variety of additional measurements. One of them is higher harmonic imaging. In the tapping mode the nonlinear contact between a tip and specimen results in higher frequency vibrations. More information available from the higher harmonics analysis proves to be helpful for more detailed imaging. Such visualization is especially useful for heterogeneous surfaces which are studied to understand corrosion mechanisms. In this paper the measurement system for nonlinear surface spectroscopy by AFM for corrosion processes monitoring is presented.
PL
Oprócz tradycyjnego zastosowania, mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope, AFM) [1] (rys. 1) umożliwia wiele dodatkowych pomiarów, wśród których wyróżnić można obrazowanie powierzchni próbki wyższymi harmonicznymi [6-13]. W trybie półkontaktowym [2-4] w odpowiedzi mikrobelki zauważane są wyższe harmoniczne będące wynikiem oddziaływań nieliniowych [2-6]. Wykorzystanie wzmacniacza fazoczułego (ang.: lock-in amplifier) umożliwia obrazowanie topografii badanej próbki [12, 13] nawet do dwudziestej harmonicznej. Otrzymywane obrazy umożliwiają wyostrzenie elementów niewidocznych podczas tradycyjnego skanowania. Ma to związek z wyostrzoną czułością wyższych harmonicznych na struktury topograficzne. Takie obrazowanie jest szczególnie przydatne do badań próbek niejednorodnych [12], gdy łatwo wyróżnić przez obserwację poziom niektórych harmonicznych [6]. Oprócz wyraźnych zmian przy przejściach między różnymi substancjami, pomiary w cieczach wykazują się zwiększoną wrażliwością na lokalne różnice w elastyczności i interakcji geometrii [10]. Przedstawiono system do obrazowania powierzchni za pomocą wyższych harmonicznych w pomiarach ECAFM (ang. Electrochemical Atomic Force Microscopy, ECAFM, rys. 2). Prezentowane rozwiązanie (rys. 3, rys. 4) umożliwia jednoczesną rejestrację obrazów do szóstej harmonicznej podczas monitorowania procesów korozji (rys. 5, 6). Proponowany system pozwala na uzyskiwanie dodatkowych informacji o zjawiskach korozji zachodzących na skanowanych powierzchniach. Taka metoda stanowi uzupełnienie istniejących metod analizy powierzchni korozyjnych [14-16].
20
Content available Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change
Sikora A
Optica Applicata
|
2013
|
Vol. 43, nr 1
163--171
EN
The investigation of the surface properties changes at micrometer and nanometer scale, due to the presence of various factors such as: temperature, solar radiation or magnetic field, requires suitable diagnostic methods. Atomic force microscopy (AFM) is one of the most popular measurement techniques providing necessary resolution. As complex experiments may require multiple moving of the sample between instruments and AFM, one can find quantitative comparison of the results unreliable when the measurements are performed without precise positioning of investigated surface and different areas are analyzed. In this work, the utilization of the nanoscratching method in terms of development of the nanomarkers set is presented, as the solution for precise positioning of the sample in order to perform the multi-step imaging of small surface area (1 μm×1 μm). Various materials were used to verify the versatility of the developed method. Also, the observation of the influence of the UV radiation on the polycarbonate sample was demonstrated as the example proving the application potential of the approach.
first rewind previous Strona / 5 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.