PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
Vol. 35, nr 3
Czasopismo
Optica Applicata
Wydawca
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Rocznik
2005
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
Vol. 35, nr 3
artykuł:
Interaction of nitrogen dioxide free base phthalocyaninewith
(
Białek B.
), s. 323-328
artykuł:
Infrared second-order nonlinear optical effect in Sb2Te3-SrBr2-PbCl2 glass
(
Gruhn W.
), s. 329-336
artykuł:
Influence of the composition of M78Si9B13 metallic glasses on their structural stability
(
Jakubczyk E.
,
Stępień Z.
,
Jakubczyk M.
), s. 339-346
artykuł:
X-ray photoelectron spectroscopy studies of PrAlO3 crystals before and after thermal treatment
(
Kruczek M.
,
Talik E.
,
Pawlak D.
,
Łukasiewicz T.
), s. 347-328
artykuł:
Influence of surface states and bulk traps on non-equilibrium phenomena at GaAs and GaN surfaces
(
Miczek M.
,
Adamowicz B.
,
Hashizume T.
,
Hasegawa H.
), s. 355-361
artykuł:
Formation of cobalt hydridesin low temperature field evaporation
(
Stępień Z. M.
), s. 363-368
artykuł:
Electron transport in the multi-terminal guantum dot system
(
Taranko E.
,
Taranko R.
,
Wiertel M.
), s. 369-374
artykuł:
Hydrogen chemisorption on palladium surface in a high electric field
(
Tomaszewska A.
,
Stępień Z. M.
), s. 375-383
artykuł:
High resolution photoemission yield study of the GaAs(100) surface cleaned by atomic hydrogen
(
Tomkiewicz P.
,
Kościelniak P.
,
Girycki A.
,
Szuber J.
), s. 385-391
artykuł:
Influence of high pressure annealing on electrical properties of surface layer of neutron irradiated or germanium-doped Czochralski-grown silicon
(
Jung W.
,
Misiuk A.
,
Londos C. A.
,
Yang D.
,
Antonova I. V.
,
Prujszczyk M.
), s. 393-398
artykuł:
Some problems of molecular beam epitaxy growth of epitaxial structures of semiconductor lasers for a 980 nm band
(
Kosmala M.
,
Regiński K.
,
Kosiel K.
), s. 399-405
artykuł:
Photoluminescence of poly(N-vinylcarbazole) thin films deposited by dip-coating technique
(
Rębarz M.
,
Dalasiński P.
,
Bała W.
,
Łukasiak Z.
,
Wojdyła M.
,
Kreja L.
), s. 407-412
artykuł:
Thin films of ZnO and ZnMnO by atomic layer epitaxy
(
Wójcik A.
,
Kopalko K.
,
Godlewski M.
,
Łusakowska E.
,
Guziewicz E.
,
Minikayev R.
,
Paszkowicz W.
,
Świderski J.
,
Klepka M.
,
Jakieła R.
,
Kiecana M.
,
Sawicki M.
,
Dybko K.
,
Phillips M. R.
), s. 413-4217
artykuł:
Post-deposition stress evolution in Cu and Ag thin films
(
Chocyk D.
,
Prószyński A.
,
Gładyszewski G.
,
Pieńkos T.
,
Gładyszewski L.
), s. 419-424
artykuł:
Properties of transparent oxide thin films prepared by plasma deposition
(
Domaradzki J.
,
Borkowska A.
,
Kaczmarek D.
,
Prociów L.
), s. 425-430
artykuł:
On the microstructure of TiHfOx thin films
(
Domaradzki J.
,
Borkowska A.
,
Kaczmarek D.
,
Prociów L.
,
Wasielewski R.
,
Ciszewski A.
), s. 431-435
artykuł:
Dielectric coatings for infrared detectors
(
Hejduk K.
,
Pierściński K.
,
Rzodkiewicz W.
,
Muszalski J.
,
Kaniewski J.
), s. 437-442
artykuł:
Angle-resolved photoemission of ultrathin Pb films on Si(111)-(6x6) Au: quantum size effect
(
Kisiel M.
), s. 443-448
artykuł:
Band structure of Au monoatomic chains on Si(335) and Si(557) surfaces
(
Kisiel M.
,
Skrobas K.
,
Zdyb R.
,
Jałochowski M.
), s. 449-455
artykuł:
Deep centers in InGaAs/InP layers grown by molecular beam epitaxy
(
Kowalczyk A. E.
,
Ornoch L.
,
Muszalski J.
,
Kaniewski J.
,
Bąk-Misiuk J.
), s. 457-463
artykuł:
Properties of constricted 2DEG/metal structures in microwave electric fields
(
Kozič A.
,
Suziedelis A.
,
Petkun V.
,
Cerskus A.
,
Shtrikmann H.
,
Gradauskas J.
,
Kundrotas J.
,
Asmontas S.
), s. 465-470
artykuł:
Optical properties of InGaAs/GaAs quantum wells with different distance from Si-delta-doping layer
(
Motyka M.
,
Sęk G.
,
Andrzejewski J.
,
Kudrawiec R.
,
Misiewicz J.
,
Ściana B.
,
Radziewicz D.
,
Tłaczała M.
), s. 471-477
artykuł:
Thermoreflectance and micro-Raman measurements of the temperature distributions in broad contact laser diodes
(
Ochalski T. J.
,
Piwoński T.
,
Wawer D.
,
Pierściński K.
,
Bugajski M.
,
Kozłowska A.
,
Maląg A.
,
Tomm J. W.
), s. 479-484
artykuł:
Certain effects of field and light induced electron emission from indium thin oxide (ITO) layers
(
Olesik J.
), s. 485-494
artykuł:
Computer simulation studies of roughness of thin films formed in the ion beam assisted deposition (IBAD) process
(
Oleszkiewicz W.
,
Romiszowski P.
), s. 495-501
artykuł:
Determination of surface waviness using radius of curvature measurement with laser scanning technique
(
Pieńkos T.
,
Gładyszewski L.
,
Prószyński A.
,
Chocyk D.
,
Gładyszewski G.
), s. 503-507
artykuł:
Optical properties of InGaAsP quantum well for infrared emission investigated by modulation spectroscopy
(
Podhorodecki A.
,
Andrzejewski J.
,
Motyka M.
,
Kudrawiec R.
,
Misiewicz J.
,
Wójcik J.
,
Robinson B. J.
), s. 509-515
artykuł:
Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films
(
Prószyński A.
,
Chocyk D.
,
Gładyszewski G.
,
Pieńkos T.
,
Gładyszewski L.
), s. 517-522
artykuł:
Application of interference methods for determination of curvature radius in metal-oxide-semiconductor (MOS) structures
(
Rzodkiewicz W.
,
Borowicz L.
), s. 523-527
artykuł:
Photoreflectance spectroscopy of thick GaN layers grown by hydride vapour phase epitaxy technique
(
Syperek M.
,
Kudrawiec R.
,
Misiewicz J.
,
Korbutowicz R.
,
Paszkiewicz R.
,
Tłaczała M.
), s. 529-535
artykuł:
Properties and origin of oval defects in epitaxial structures grown by molecular beam epitaxy
(
Szerling A.
,
Kosiel K.
,
Wójcik-Jedlińska A.
,
Płuska M.
,
Bugajski M.
), s. 537-548
artykuł:
Influence of materials grain structure on the performance of optoelectronic devices
(
Szyszka A.
,
Paszkiewicz B.
,
Wośko M.
,
Tłaczała M.
), s. 549-554
artykuł:
Analysis of high-power diode laser thermal properties by micro-Raman spectroscopy
(
Wawer D.
,
Tomm J. W.
,
Pierściński K.
,
Bugajski M.
), s. 555-560
artykuł:
Lock-in phase analysis of copper phthalocyanine photoabsorption spectrum
(
Wojdyła M.
,
Derkowska B.
,
Bała W.
), s. 561-571
artykuł:
Thermally induced changes of broad contact pulse-operated single quantum well (SQW) separate confinement heterostructure (SCH) laser spectra
(
Kowalczyk E.
,
Ornoch L.
,
Szerling A.
,
Mroziewicz B.
), s. 573-578
artykuł:
Simplified modelling of photonic-crystal-confined vertical-cavity surface-emitting diode lasers
(
Nakwaski W.
), s. 579-589
artykuł:
Analysis of thermal conditions of pulse operated single quantum well separate confinement heterostructure (SQW SCH) lasers
(
Ornoch L.
,
Kowalczyk E.
,
Mroziewicz B.
), s. 591-595
artykuł:
Piezoelectric effect and spontaneous polarization in computer modelling of AIII--N heterostructures
(
Piasecki T.
,
Kośnikowski W.
,
Paszkiewicz B.
), s. 597-604
artykuł:
Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques
(
Pierściński K.
,
Piwoński T.
,
Ochalski T. J.
,
Kowalczyk E.
,
Wawer D.
,
Bugajski M.
), s. 605-610
artykuł:
Thermoreflectance study of temperature distribution on the semiconductor laser mirrors
(
Piwoński T.
,
Wawer D.
,
Szymański M.
,
Ochalski T.
,
Bugajski M.
), s. 611-617
artykuł:
Optimization of multi quantum well solar cell
(
Prażmowska J.
,
Korbutowicz R.
), s. 619-626
artykuł:
Magnetic field sensors based on undoped In0.53Ga0.47As/InP heterostructures fabricated by molecular beam epitaxy and metalorganic chemical vapor deposition
(
Przesławski T.
,
Wolkenberg A.
,
Kaniewski J.
,
Regiński K.
,
Jasik A.
), s. 627-634
artykuł:
An impact of a localization of an oxide aperture within a vertical-cavity surface-emitting diode laser (VCSEL) cavity on its lasing threshold
(
Sarzała R. P.
), s. 635-644
artykuł:
AlGaAs/GaAs heterojunction phototransistor with Zn delta-doped base region
(
Ściana B.
,
Radziewicz D.
,
Pucicki D.
,
Tłaczała M.
,
Kovac J.
,
Srnanek R.
), s. 645-650
artykuł:
Envelope function description of quantum cascade laser electronic states
(
Wasiak M.
,
Bugajski M.
,
Nakwaski W.
), s. 651-654
artykuł:
High-sensitivity NO2 sensor based on n-type InP epitaxial layers
(
Wierzbowska K.
,
Adamowicz B.
,
Mazet L.
,
Brunet J.
,
Pauly A.
,
Bideux L.
,
Varenne C.
,
Berry L.
,
Germain J. P.
), s. 655-662
artykuł:
Applications of functionally graded materials in optoelectronic devices
(
Wośko M.
,
Paszkiewicz B.
,
Piasecki T.
,
Szyszka A.
,
Paszkiewicz R.
,
Tłaczała M.
), s. 663-667
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.