Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first previous next last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-c9f4e12f-dfce-4c3f-a008-23f65531d703

Czasopismo

Przegląd Elektrotechniczny

Tytuł artykułu

Analiza dokładności pomiaru, względnego rozkładu egzytancji widmowej źródeł światła, dokonanego przy użyciu spektroradiometru kompaktowego

Autorzy Czech, E.  Jaroszewicz, Z.  Tabaka, P.  Fryc, I. 
Treść / Zawartość http://pe.org.pl/
Warianty tytułu
EN Analysis of the impact of spectroradiometer bench on the measurement accuracy of the spectral power distribution of light sources
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W pracy przedstawiono analizę wpływu właściwości spektralnych toru optycznego spektroradiometru (tj. układu siatka dyfrakcyjna, detektor CCD) na dokładność pomiarów rozkładów egzytancji widmowych współczesnych źródeł światła. Analizie zostały poddane układy elektrooptyczne spektroradiometrów zbudowane z różnych kombinacji siatek dyfrakcyjnych i detektorów.
EN The paper presents an analysis of the impact of spectral properties of spectroradiometer electro-optical bench (ie. diffraction grating, CCD detector) on the measurement accuracy of spectral power distribution of light sources. Analysis were performed for electro-optical spectroradiometric systems which were built on different combinations of diffraction gratings and detektors.
Słowa kluczowe
PL spektroradiometr   detektor   siatka dyfrakcyjna   źródło światła  
EN spectroradiometer   detector   diffracting grating   light source  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Przegląd Elektrotechniczny
Rocznik 2015
Tom R. 91, nr 4
Strony 171--175
Opis fizyczny Bibliogr. 9 poz., schem., wykr.
Twórcy
autor Czech, E.
  • Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii, ul. Wiejska 45d, 15-351 Białystok, eczech@plusnet.pl
autor Jaroszewicz, Z.
  • Instytut Optyki Stosowanej, ul. Kamionkowska 18, 03-805 Warszawa, Instytut Łączności, ul. Szachowa 1, 04-894 Warszawa, mmtzjaroszewicz@post.home.pl
autor Tabaka, P.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Elektroenergetyki, 90-924 Łódź, ul. Bohdana Stefanowskiego 18/22, przemyslaw.tabaka@wp.pl
autor Fryc, I.
  • Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, Katedra Elektroenergetyki, Fotoniki i Techniki Świetlnej, ul. Wiejska 45d, 15-351 Białystok, i.fryc@pb.edu.pl
Bibliografia
[1] na podstawie danych zawartych w katalogu Hamamatsu: http://sales.hamamatsu.com/en/products/solid-statedivision/image-sensors/
[2] Fryc I., „Istotne parametry spektroradiometru wielokanałowego”, Przegląd Elektrotechniczny, 4a/2012
[3] Fryc I., Czyżewski D., „Dokładność pomiarowa spektroradiometrów typu CCD”, Przegląd Elektrotechniczny, 11/2009
[4] Damman H., “Blazed Synthetic Phase-Only Holograms”, Optik 31, 95–104, (1970)
[5] Ammer T., Rossi M., “Diffractive optical elements with modulated zone sizes”, J. Mod. Opt. 47, 2281-2293, (2000)
[6] Minguez-Vega G., Thaning A., Climent V., Friberg A., Jaroszewicz Z., “Diffraction efficiency achromatization by random change of the blaze angle”, Proceedings of SPIE 4829, 1070-1072, (2003)
[7] na podstawie danych zawartych w katalogu Edmund Optics http://www.edmundoptics.com/optics/gratings/reflective-ruleddiffraction-gratings/1896
[8] Kostkowski H. J. „Reliable Spectroradiometry” Spectroradiometry Consulting, 1997
[9] na podstawie danych zawartch w “Report of calibration of one standard of spectra irradiance OL 200M”, Optronic Laboratories, Inc.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-c9f4e12f-dfce-4c3f-a008-23f65531d703
Identyfikatory
DOI 10.15199/48.2015.04.38