Pomiar twardości białej warstwy z wykorzystaniem SEM i nanoindentera

• Autorzy: Jóźwiak K.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

nanoindenter; elektronowy mikroskop skaningowy; biała warstwa; pomiar twardości

EN

nanoindenter; scaning electron microscope; white layer; hardnes measurements

• Wydawca: Roble Sp. z o.o.
• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2005
• Tom: R. 10, nr 2
• Strony: 30--32

Twórcy

autor

Jóźwiak K.

• Politechnika Poznańska, Instytut Inżynierii Materiałowej,