Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first previous
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWAN-0008-0034

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Elektronika w pojazdach samochodowych. Cz.1, Charakterystyczne narażenia eksploatacyjne

Autorzy Kołodziejski, J. F.  Szczęsny, J.  Guzdek, P. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Car electronics. Pt , Characteristic exploitation stresses
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W pracy omówiono wiele zagadnień dotyczących niezawodności podzespołów i modułów elektronicznych stosowanych w pojazdach samochodowych. Zamieszczony został przegląd elektronicznych modułów funkcjonalnych. Rozpatrzone zostały wymagania elektryczne, klimatyczne i mechaniczne stawiane podzespołom instalowanym w samochodach. Szczegółowo przedyskutowano wymagania elektryczne wynikające z przepić pojawiających się w instalacji elektrycznej pojazdu oraz impulsów napięciowych powstających wskutek wyładowań elektrostatycznych, które - obok uszkodzeń o charakterze mechanicznym - są najczęstszą przyczyną, uszkodzeń układów elektronicznych w pojazdach.
EN In the work several problems related to reliability of components and electronic modules used in the cars is described. Initially a review of electronic functional modules is given. It are followed by consideration of electrical, climatic and mechanical requirements put to the components expected to be used in the cars. The requirements resulted from over-voltages EOS in vehicle electrical installation and electrostatic discharges ESD as well as some mechanical stresses are discussed in details, since these phenomena are considered as main causes of failures.
Słowa kluczowe
PL elektronika samochodowa   kompatybilność EM   narażenia elektryczne   przepięcia   wyładowania ESD   narażenia mechaniczno-klimatyczne   metody badań  
EN car electronics   EMC   electrical stresses   overvoltages   ESD   mechanical and climatic stresses   test methods  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2011
Tom Vol. 52, nr 4
Strony 131--136
Opis fizyczny Bibliogr. 9 poz., tab., wykr.
Twórcy
autor Kołodziejski, J. F.
autor Szczęsny, J.
autor Guzdek, P.
  • Instytut Technologii Elektronowej w Warszawie
Bibliografia
[1] Kołodziejski J. R., Kopczyński K.: Elektronika i kompatybilność elektromagnetyczna w pojazdach samochodowych. Elektronika nr 8-9, 1992, ss. 25-28.
[2] Bezpieczna przyszłość w inteligentnych pojazdach. Elektronika B2B, 03.03.2008, ss. 1-3.
[3] Sokolik J.: Elektrotechnika samochodowa. WSiP, Warszawa 1999.
[4] Dziubiński M.: Elektroniczne układy pojazdów samochodowych. Wydawnictwo Naukowe Gabriel Borowski, Lublin, 2003.
[5] Łukjanow S., Pijanowski B.: Badania kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) w aspekcie rozwoju techniki motoryzacyjnej. Czasopismo Techniczne, Z.12, Mechanika Z. 8-M, 2008, ss. 109-121.
[6] Lobeck A.: Seminarium firmy EMV: EMC in Automotive Electronic. Warszawa, 2010.
[7] Górecki P.: HBM, MM, COM czyli ładunki elektryczne w natarciu. Elektronika dla Wszystkich 4, kwiecień 2002, ss. 28-29.
[8] Lefebrve J. L., Gautier CH., Barbier F.: Correlation between EOS customer return failure and cases and Over Voltage Stress (OVS) test method. Microelectronics Reliability, vol. 49, Issues 9-11 Sept-Nov. 2009, pp. 952-957.
[9] Marsh D.: Silicon safeguards automotive circuits. EDN Europe, Oct. 2007, pp. 22-33.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWAN-0008-0034
Identyfikatory