Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first previous next last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWAN-0008-0015

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Badanie właściwości cienkich warstw pasywujących z SiO₂ w strukturze ogniwa fotowoltaicznego

Autorzy Wróbel, E.  Waczyńska, N.  Filipowski, W.  Drabczyk, K. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Properties studies of thin SiO₂ passivates films in a photovoltaic cell structure
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem techniki wytwarzania cienkich warstw ditlenku krzemu pełniących rolę warstwy pasywującej w strukturze krzemowego ogniwa słonecznego. Podano parametry warstw szkliwa krzemionkowego (SiO₂) wytworzonych przy wykorzystaniu techniki rozwirowania (spin-on) specjalnych roztworów na bazie tetraetoksysilanu, wykorzystywanych jako warstwy pasywujące w strukturze ogniwa słonecznego.
EN In this paper we present the results of using a preparation method of SiO ₂ thin films which are a passivates layer in a solar cell structure. The parameters of silica glaze (SiO₂) prepared by using spin-on technique, which use special passivates solutions made on tetraethyl orthosilicate base, were shown.
Słowa kluczowe
PL fotowoltaika   krzemowe ogniwo słoneczne   warstwa pasywująca  
EN photovoltaics   silicon solar cell   passivates layer  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2011
Tom Vol. 52, nr 4
Strony 55--57
Opis fizyczny Bibliogr. 3 poz., tab., wykr., il.
Twórcy
autor Wróbel, E.
autor Waczyńska, N.
autor Filipowski, W.
autor Drabczyk, K.
  • Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, Gliwice
Bibliografia
[1] Szlufcik J.: prezentacja multimedialna, materiały udostępnione.
[2] Waczyński K., Krompiec S., Łoś S.: Badania nad zastosowaniem szkliwa planaryzującego w technologii krzemowej. Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, Seria:Chemia z. 129, Gliwice (1993) 127-138.
[3] Wróbel E., Waczyński K., Karasiński P.: Pomiary parametrów warstw dielektrycznych wytworzonych metodą “spin-on” (Measurements of dielectric layers parameters produce by spinon method). VIII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009, ss. 55-59.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWAN-0008-0015
Identyfikatory