Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWAH-0010-0010

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Pomiary charakterystyki prądowo-napięciowej nanostruktur: błąd systematyczny spowodowany pojemnościami sond

Autorzy Wawrzyniak, M. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
FR I-V measurements of nanostructures: probe capacitance-dependent systematic error
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL Zastosowanie oscyloskopu cyfrowego w pomiarach charakterystyki prądowo-napięciowej nanostruktur umożliwia pomiar charakterystyk w czasie < 1 µs. Przy tak krótkim czasie pomiarów w obwodzie pomiarowym, który ma charakter obwodu RC uwidaczniają się stany przejściowe. W artykule dokonano analizy wpływu pojemności sond oscyloskopu na mierzone sygnały i wyznaczaną charakterystykę prądowo-napięciową. Zaproponowano model, na podstawie którego wyprowadzono zależności teoretyczne umożliwiające określenie błędu systematycznego, przedstawionej metody pomiaru charakterystyki prądowo-napięciowej, spowodowanego wpływem pojemności sond. Ujawniony błąd systematyczny powodują nieliniowość charakterystyki prądowo-napięciowej, jej przesuwanie w odniesieniu do początku układu współrzędnych oraz rozciąganie zakresu, dla którego jest ona mierzona.
EN A digital oscilloscope used in I-V measurements of nanostructures, allows a reduction of measurement time to <1 µs. Such short measurement time, however, involves a sensible effect of transition states occurring in an experimental setup representing an RC circuit. We analyze the effect of probe capacitance on the signal reading and on the resulting I-V curves, and derive theoretical formulae for the probe capacitance-dependent systematic error on the basis of a model proposed for the discussed measurement method. The systematic error is evidenced by nonlinearity of the obtained current-voltage curve, its shift with respect to the origin of the coordinate system, and an extension of the measurement range.
Słowa kluczowe
PL nanostruktury   kwantowanie przewodności   pomiary przewodności elektrycznej   charakterystyka prądowo-napięciowa  
EN nanostructures   conductance quantization   electrical conductance measurements   I-V curves  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2008
Tom Vol. 49, nr 5
Strony 37--40
Opis fizyczny Bibliogr. 13 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor Wawrzyniak, M.
  • Politechnika Poznańska, Wydział Elektroniki i Telekomunikacji
Bibliografia
[1] Agrait N., Rodrigo J. G., Vieira S.: Conductance steps and quantization in atomic-size contacts. Phys. Rev. B, vol. 47, 1993, pp. 12345-12348.
[2] Pascual J. I., Mendez J., Gómez-Herrero J., Baró A. M., Garcia N., Thien Binh V.: Quantum contact in gold nanostructures by scanning tunneling microscopy. Phys. Rev. Lett, vol. 71, 1993, pp. 1852-1855.
[3] Muller C. J., Van Ruitenbeek J. M., De Jongh L. J.: Experimental observation of the transition from weak link to tunnel junction. Physica C, vol. 191, 1992, pp. 485-504.
[4] Krans J. M., Muller C. J., Yanson I. K., Govaert Th. C. M., Hesper R., Van Ruitenbeek J. M.: One-atom point contacts. Phys. Rev. B, vol. 48, 1993, pp. 14721-14724.
[5] Hansen K., Laegsgaard E., Stensgaard I., Besenbacher R: Ouantized conductance in relays. Phys. Rev. B, vol. 56, 1997, pp. 2208-2220.
[6] Costa-Kramer J. L., Garcia N., Garcia-Mochales P., Serena P. A., Marques M. I., Correia A.: Conductance quantization in nanowires formed between micro and macroscopic metallic electrodes. Phys. Rev. B, vol. 55, 1997, pp. 5416-5424.
[7] Oshima Y, Mouri K., Hirayama H., Takayanagi K.: Development of a miniature STM holder for study of electronic conductance of metal nanowires in UHV-TEM. Surf. Sci. vol. 531, 2003, pp. 209-216.
[8] Hansen K., Nielsen S. K., Lasgsgaard E., Stensgaard I., Besenbacher F.: Fast and accurate current-voltage curves of metallic quantum point contacts. Rev. Sci. Instrum. vol. 71, 2000, pp. 1793-1803.
[9] Hansen K., Nielsen S. K., Bradbyge M., Laegsgaard E., Stensgaard I., Besenbacher R.: Current-voltage curves of gold quantum point contacts revisited. Appl. Phys. Lett. vol. 77, 2000, pp. 708-710.
[10] Yoshida M., Oshima Y, Takayanagi K.: Nonlinear current-voltage curves of gold quantum point contacts. Appl. Phys. Lett., vol. 87, 2005, pp. 103104-1-3.
[11] Wawrzyniak M.: System pomiarowy do wyznaczania charakterystyk prądowo-napięciowych nanodrutów. Elektronika, nr 5/2006, ss. 39-41.
[12] Wawrzyniak M.: Pomiary charakterystyki prądowo-napięciowej nanodrutów. PAK vol. 53, nr 9bis, 2007, ss. 89-92.
[13] Wawrzyniak M.: Probe capacitance-dependent systematic error in I-V measurements of nanowires: analysis and correction. Metrology and Measurement Systems, vol. 14, 2007, pp. 391-408.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWAH-0010-0010
Identyfikatory