Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWAD-0021-0018

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Uniwersalny sterownik na bazie mikrokontrolera ATmega128 dla mikroskopii bliskich oddziaływań

Autorzy Garczyński, K.  Zielony, M.  Zawierucha, P.  Kopiec, D.  Gotszalk, T. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Universal driver for scanning probe microscopy based on ATmega128 microcontroller
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL Artykuł przedstawia konstrukcję i zastosowanie tanich i uniwersalnych sterowników dla systemów pomiarowych w mikroskopii bliskich oddziaływań. Głównym założeniem projektu jest minimalizacja kosztów budowy takiego systemu poprzez zastąpienie głównej jednostki sterującej, zbudowanej na procesorze sygnałowym, mikrokontrolerem jednoukładowym oraz logiką programowalną. Przedstawione zostaną algorytmy komunikacji między magistralą sterującą i komponentami systemu (karty ADC, DAC) oraz wyniki pomiarów.
EN This paper shows a construction of universal and Iow cost control drivers for measure systems using in atomic force and scanning microscopy. Main point of this project is to minimize cost of this system and replace main central processing unit, expensive signal processor, by 8bits microcontroller and programmable logic device. l'd like to show algorithms describing Communications with PC, system components like Analog-Digital and Digital-Analog cards and present some measure effects.
Słowa kluczowe
PL mikroskop skaningowy   mikrokontrolery   logika programowalna   system pomiarowy  
EN scanning microscopy   microcontrollers   programmable logic devices   measuring system  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2010
Tom Vol. 51, nr 9
Strony 69--72
Opis fizyczny Bibliogr. 5 poz., il., wykr.
Twórcy
autor Garczyński, K.
autor Zielony, M.
autor Zawierucha, P.
autor Kopiec, D.
autor Gotszalk, T.
  • Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Bibliografia
[1] Gotszalk T.: Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro- i nanostruktur. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2004.
[2] Zielony M., Zawierucha R., Woszczyna M., Kolanek K., Klich M., Gotszalk T.: Sterownik oddziaływań w mikroskopii sił atomowych. V Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006, przyjęte do druku w materiałach konferencyjnych.
[3] Nota ATmega128 [online]. Dostępny w Internecie: http://www.atmel.com/atmel/acrobat/doc2467.pdf
[4] Nota XC95144XL [online]. Dostępny w Internecie: http://www.xilinx.co m/support/documentation/data_sheets/ds056.pdf
[5] Nota FT232RL [online]. Dostępny w Internecie: http://www.ftdichip.com/Documents/DataSheets/DS FT232 R.pdf
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWAD-0021-0018
Identyfikatory