Nowy sposób projektowania uniwersalnego modułu do samotestowania układów hybrydowych

• Autorzy: Jarmolik W. , Gruszewski M.

Warianty tytułu

EN

New design approach for a mixed-signal circuit self-test universal module

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiony jest nowy sposób projektowania uniwersalnego modułu do samotestowania układów hybrydowych (mixed-signal), który pozwala wytwarzać szeroki zakres sygnałów testowych i analizować odpowiedzi testowanych układów z wysokim stopniem wiarygodności. Przedstawione podejście oparte jest na wykorzystaniu stochastycznego integratora, który jest podstawowym elementem uniwersalnego modułu. Dodatkowo praca zawiera zwięzły opis podstawowych sygnałów testowych, schematy blokowe układów do wytwarzania przedstawionych sygnałów i sposoby analizy wyników testowania.

EN

The article presents a new design of the universal module necessary to obtain the mixed-signal units. The mixed-signal units allow to construct the wide extent of test-signals and analyse the response of evaluated components with a high credibility. The presented approach is based on idea of the stochastic integrator; an essential constituent of the universal module. Additionally, the writing includes the brief description of major test-signals and block-unit plans required to develop the signals characterized above. The work also proposes several ways of analysis of the final test results.

Słowa kluczowe

PL

układy hybrydowe; samotestowanie; sygnał testowy

EN

hybrid matches; self-test; test signal

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2001
• Tom: Vol. 42, nr 4
• Strony: 26--28
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz.

Twórcy

autor

Jarmolik W.

• Instytut Informatyki, Katedra Systemów Komputerowych, Politechnika Białostocka, Białystok

autor

Gruszewski M.

• Instytut Informatyki, Katedra Systemów Komputerowych, Politechnika Białostocka, Białystok

Bibliografia

• 1. M. Ohletz. Hybrid Built-In Self Test (HBIST) for Mixed Analo- gue/Digital Circuits, IEEE European Test Conference, 1991, s. 307-316.
• 2. C. L.Wey. Built-In Self Test (BIST) Strukture for Analog Circuit Fault Diagnosis, IEEE Trans. On Instrumentation and Measure- ment, Vol. 39, N3, 1990, s. 517-521.
• 3. S. Khaled, B. Kaminska, B. Courtois, M. Lubaszewski: Freguency-based BIST for analog circuit testing, 13th VLSI Test Sympo- sium, 1995, s. 54-59.
• 4. M. Renovell, F. Azais, Y. Bertrand: The Multi-Configuration: A DFT Technique for Analog Circuits, 14th VLSI Test Symposium, 1996, s. 54-59.
• 5. W. N. Jarmolik: Kontrolowanie i diagnostyka cyfrowych podzespołów komputerowych, Mińsk, 1988.
• 6. M. Soma: Fault Modeling and Test Generation for Sample-and- Hold Circuits, International Symposium on Circuits and Systems, 1991, s. 2072-2075.
• 7. C. Y. Pan, K. T. Cheng: Pseudo-Random Testing and Signature Analysis for Mixed-Signal Circuits, ICCAD'95, 102-107.
• 8. W. I. Goroszkow. Elementy urządzeń radioelektronicznych, Mińsk, 1988.
• 9. W. W. Jakowlew, R. F. Fiedorow. Komputery stochastyczne, Leningrad, 1974.
• 10. J. P. Robinson, N. R. Saxena: Simultaneous Signature and Syndrome Compression, IEEE Trans. On CAD, 1988, Vol. 7, N5, S. 584-589.