PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wykorzystanie paskowych detektorów krzemowych w dyfraktometrii promieniowania X

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Silicon strip detectors in X-ray diffractometry applications
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono system do pozycjoczułej jednowymiarowej detekcji promieniowania X dedykowany do zastosowań dyfraktometrycznych. Zasadniczymi elementami systemu są: krzemowy detektor paskowy i specjalizowany 64-kanałowy układ scalony zawierający niskoszumowe układy elektroniki front-end i bloki cyfrowe umożliwiające przechowanie danych, kontrolę polaryzacji i komunikację ze światem zewnętrznym poprzez łącza szeregowe. W artykule omówiono architekturę układu scalonego ze zwróceniem szczególnej uwagi na optymalizację szumową, minimalizację rozrzutu parametrów elektrycznych pomiędzy kanałami, oraz integrację bloków analogowych i cyfrowych w jednym układzie scalonym. Przedstawiono przykładowe wyniki pomiarów prototypowego systemu.
EN
The paper describes a multichannel readout system for applications in X-ray diffractometry. The system consists of a silicon strip detector and a mixed-mode 64-channel readout chip RX64. The integrated circuit is implemented in a 0.8 μm CMOS p-well epi-type substrate technology. The single channel comprises a charge sensitive preamplifier, a shaper, a discriminator and a pseudo-random 20-bit counter. To increase the functionality and testability additional blocks like calibration circuit, internal DACs and command decoder are implemented on the chip. The equivalent noise charge (ENC) measured at room temperature for the detector capacitance of 2.5 pF and integration time of 0.7 μs is 167 electrons rms. The power dissipation is below 2.5 mW/channel. The input referred channel-to-channel offset variation is only 28 electrons rms, while the gain spread expressed as sigma to the mean value is 0.5%. The chip occupies the area 2.8 x 6.5 mm2.
Rocznik
Strony
435--448
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz.
Twórcy
autor
  • Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej, AGH, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0010-0015
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.