Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first previous next last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0005-0028

Czasopismo

Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki

Tytuł artykułu

Badania podatności cyfrowych układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne

Autorzy Kuciński, S. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Testing digital integrated circuits susceptibility to electromagnetic disturbance
Języki publikacji PL
Abstrakty
Słowa kluczowe
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
Rocznik 2001
Tom nr 9
Strony 17--19
Opis fizyczny Bibliogr. 5 poz.
Twórcy
autor Kuciński, S.
  • Przemysłowy Instytut Elektroniki
Bibliografia
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWA2-0005-0028
Identyfikatory