Badane właściwości wybranych algorytmów splotowych do analizy termicznej układów elektronicznych

• Autorzy: Górecki K. , Zarębski J.

Warianty tytułu

EN

Investigation of the properties of the selected convolution algorithms for the thermal analysis of electronic circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zaprezentowano analizę podstawowych właściwości wybranych bezpamięciowych algorytmów splotowych, należących do grupy algorytmów całkowania numerycznego. Zbadano stabilność i zbieżność tych algorytmów, przyjmując jako funkcje testowe funkcję eksponencjalną oraz jednostkowy uskok mocy, a także opracowano zależności opisując wartość lokalnego błędu obcięcia oraz wyznaczono obszary stabilności bezwzględnej rozważanych algorytmów. Rozważania teoretyczne zilustrowano przykładami obliczeniowymi.

EN

In the paper the analysis of the basic properties of the selected memoryless convolution algorithms is presented. The stability and convergence of these algorithms was investigated by the use of power in the form of two testing functions: the exponential function and Heaviside jump. The dependencies describing the value of the local truncation error and the areas of the absolute stability of the considered algorithms are elaborated as well. The theoretical considerations were illustrated by the numerical examples.

Słowa kluczowe

PL

analiza układów elektronicznych; algorytmy splotowe

EN

analysis of electronic circuits; convolution algorithms

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWN SA
• Czasopismo: Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji
• Rocznik: 2000
• Tom: Vol. 46, nr 4
• Strony: 633--650
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.

Twórcy

autor

Górecki K.

autor

Zarębski J.

• Katedra Radioelektroniki Morskiej, Wyższa Szkoła Morska w Gdyni