Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0038-0025

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Wzmacniacz fazoczuły typu lock-in do zastosowań w mikroskopii bliskich oddziaływań

Autorzy Kopiec, D.  Woszczyna, M.  Gotszalk, T.  Woźniak, K.  Zawierucha, P.  Sojka, K. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Lock-in amplifier for scanning probe microscopy applications
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W artykule przedstawiono zasadę działania oraz konstrukcję wzmacniacza fazoczułego typu lock-in mogącego pracować w trybie dwukanałowym bądź w trybie woltomierza wektorowego. Zaprezentowano zastosowanie opisywanego wzmacniacza w technice mikroskopii bliskich oddziaływań, gdzie obserwacja amplitudy oraz przesunięcia fazowego odpowiedzi sondy ma istotne znaczenie w wysokorozdzielczych badaniach lokalnych właściwości powierzchni preparatu.
EN In this article design of the two-channel lock-in amplifier is presented. The presented device has implemented four DDS generators and two phase-sensitive detectors. Lock-in amplifier is controlled from PC computer via RS232 interface. This lock-in amplifier is applied in scanning probe microscopy techniques where amplitude and phase resolving is important in obtaining information about local surface properties.
Słowa kluczowe
PL wzmacniacz fazoczuły   lock-in   mikroskopia bliskich oddziaływań   generator DDS  
EN phase sensitive detector   lock-in   scanning probe microscopy   DDS generator  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2010
Tom Vol. 51, nr 1
Strony 88--91
Opis fizyczny Bibliogr. 5 poz., il., wykr.
Twórcy
autor Kopiec, D.
autor Woszczyna, M.
autor Gotszalk, T.
autor Woźniak, K.
autor Zawierucha, P.
autor Sojka, K.
  • Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Bibliografia
[1] Proksch R.: Multifrequency, repulsive-mode amplitude-modulated atomic force microscopy. Applied Physics Letters 89, 2006, 113121.
[2] Woźniak K., Kolanek K., Gotszalk T., Woszczyna M., Sikora A., Świątkowski M., Gruca G.: Precyzyjny, wysokorozdzielczy, cyfrowy generator sygnałowy zintegrowany z selektywnym detektorem wartości skutecznej. KKE 2007, materiały konferencyjne ss. 243-248.
[3] Woszczyna M., Gotszalk T., Zawierucha P., Zielony M.: Zastosowanie detektorów przesunięcia fazowego do pomiarów bliskich oddziaływań w mikroskopii sił atomowych. KKE 2006, materiały konferencyjne ss. 335-340.
[4] Sonnaillon M. O., Bonetto F. J.: A low-cost, high-performance, digital signal processor-based lock-in amplifier capable of measuring multiple frequency sweeps simultaneously. Rev. Sci. Instrum. 76, 2005, 024703.
[5] Woszczyna M., Masalska A., Kolanek K., Gotszalk T., Szeloch R.: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń. Elektronika 11/2005.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWA1-0038-0025
Identyfikatory