Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BWA0-0006-0016

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych

Autorzy Mulak, P.  Gotszalk, T.  Kolanek, K.  Woszczyna, M.  Masalska, A.  Zawierucha, P.  Wielgoszewski, G.  Zielony, M.  Sankowska, A.  Szeloch, R.  Janus, P.  Grabiec, P. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Application of optical fiber interferometry in characterization of metrological properties of scanning probe microscopy nearfield sensors
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL Podstawowym problemem metrologicznym mikroskopii sił atomowych jest pomiar oddziaływań dynamicznych występujących między mikroostrzem a powierzchnią. W praktyce laboratoryjnej stosowane są zwykle układy natężeniowych detektorów laserowych, które umożliwiają jedynie detekcję (rozumianą w sensie jakościowej oceny ugięcia dźwigni). W laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań, nanostruktur i nanomiernictwa Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki opracowaliśmy światłowodowy interferometr pracujący w konfiguracji Fabry-Perota, za pomocą którego jesteśmy w stanie przeprowadzić pomiary właściwości metrologicznych układów piezoelektrycznych stosowanych w mikroskopii bliskich oddziaływań oraz dokonać skalowania czujników bliskiego pola ze zintegrowanymi detektorami wychylenia końcówki. Przedmiotem naszych prac była analiza właściwości piezoelektrycznych rezonatorów kwarcowych i elektrostatycznych aktuatorów wychylenia. Prezentowane przez nas metody i techniki pomiarowe pozwalają na pomiar ugięcia (wychylenia) dźwigni kamertonu piezoelektrycznego z rozdzielczością 0,1 nm w paśmie 1 kHz w zakresie częstotliwości do 100 kHz.
EN One of the fundamental metrological issues in scanning probe microscopy is the measurement of nearfield interactions between the microprobe and the surface. In most experiments the detection of the cantilever deflection is performed using so called Position Sensitive Detectors. In this setup the measurements of forces acting at the microtip require additional tedious and very time consuming calibration. Therefore in the laboratory of scanning probe microscopy, nanostructure and nanometrology at the Faculty of Microsystem Electronics and Photonics of the Wroclaw University of Technology we developed fiber optical Fabry-Perot inteferometer which can be used to determine the metrological parameters of the nearfield sensors. In this work we will present the results of piezoelectrical tuning fork measurements, which enable deflection detection of the tuning fork prongs with the resolution of 0,1 nm in the bandwidth of 1 kHz in the frequency range up to 100 kHz. We will also report in the calibration of the microsystem electrostatic deflection actuator, which can be used to maintain the distance between the microprobe and sample.
Słowa kluczowe
PL mikroskopia bliskich oddziaływań   interferometria światłowodowa   nanometrologia   nanomiemictwo  
EN scanning probe microscopy   optical fiber interferometry   nanometrology  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2006
Tom Vol. 47, nr 5
Strony 57--59
Opis fizyczny Bibliogr. 6 poz., wykr.
Twórcy
autor Mulak, P.
autor Gotszalk, T.
autor Kolanek, K.
autor Woszczyna, M.
autor Masalska, A.
autor Zawierucha, P.
autor Wielgoszewski, G.
autor Zielony, M.
autor Sankowska, A.
autor Szeloch, R.
autor Janus, P.
autor Grabiec, P.
  • Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Bibliografia
[1] Grober R., Acimovic J., Schuck J., et al.: Fundamental limits to force detection using quartz tuning forks. Rev. Sci. Instruments, 71, 2776, 2000.
[2] Goddenhenrich T., Lemke H., Hartmann U., Heiden C.: Force microscope with capacitive displacement detection. J. Vac. Sci. Technol., A8, 383, 1990.
[3] Gotszalk T., Grabiec P., Rangelow I. W.: Calibration and examination of piezoresistive Wheatstone bridge cantilvers for scanning probe microscopy. Ultramicroscopy, 97, 385, 2003.
[4] Woszczyna M., Masalska A., Kolanek K., Gotszalk T., Szeloch R.: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń. Krajowa Konferencja Elektroniki, 2005.
[5] Wielgoszewski G., Mulak P., Woźniak K., Herwich W., Zielony M.: Uniwersalny cyfrowy regulator PID do sterowania temperaturą w układach mikrosystemowych i optoelektronicznych. Konferencja Naukowa Studentów 2006, Politechnika Wrocławska.
[6] Zawierucha P., Mulak P., Sankowska A., Gotszalk T.: Zastosowanie natężeniowego zbliżeniowego czujnika światłowodowego do charakteryzacji zachowań dynamicznych układów typu MEMS. COE 2006.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BWA0-0006-0016
Identyfikatory