Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BPOM-0019-0017

Czasopismo

Przegląd Elektrotechniczny

Tytuł artykułu

Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych

Autorzy Korzybski, M. 
Treść / Zawartość http://pe.org.pl/
Warianty tytułu
EN Evolutionary method for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis
Konferencja Krajowa Konferencja Elektroniki (8 ; 07-10.06.2009 ; Darłówko Wschodnie, Polska)
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W pracy przedstawiona została modyfikacja algorytmu diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w liniowych i nieliniowych obwodach elektrycznych pozwalająca bardzo często na istotne skrócenie czasu obliczeń potestowych. Jest to efekt uwzględnienia faktu dużo większego prawdopodobieństwie występowania uszkodzeń katastroficznych niż parametrycznych. Umożliwiło to w wielu przypadkach eliminację procesu dokładnej identyfikacji uszkodzenia wykorzystującego algorytm genetyczny.
EN The paper deals with a modyfication of an algorithm for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis in linear and nonlinear electronic circuits, which enable us frequently to shorten the after-test computation time. Due to the greater probability of catastrofic than parametric fault occurrence the process of exactly fault identyfication, which uses genetic algorithm, can be often eliminated.
Słowa kluczowe
PL układy elektryczne   algorytmy genetyczne   uszkodzenia parametryczne   uszkodzenia katastroficzne  
EN electric circuit   parametric faults   catastrofic faults   genetic algorithm   diagnosis  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Przegląd Elektrotechniczny
Rocznik 2009
Tom R. 85, nr 11
Strony 195--198
Opis fizyczny Bibliogr. 11 poz., schem.
Twórcy
autor Korzybski, M.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, ul. Stefanowskiego 10/22, 90-924 Łódź, marek.korzybski@p.lodz.pl
Bibliografia
[1] Bandler J.W., Salama A.E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, 73 (1981), 1279-1325
[2] Lin P.M., Elcherif Y.S., Analoque circuits fault dictionary – New approaches and implementation, International Journal of Circuit Theory and Applications, 13 (1985), 149-172
[3] Ozawa T., Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis, New York, USA: Marcel Dekker, 1988
[4] Liu D., Starzyk J.A., A Generalized Fault Diagnosis Method in Dynamic Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, 30 (2002), 487-510
[5] Rutkowsk i J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, 2003
[6] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, 34 (2006), 607-615
[7] Korzybski M., Dictionary method for multiple soft and catastrofic fault diagnosis based on evolutionary domputation, Proceedings of International Conference on Signals and Electronic Systems – ICSES 2008, 553-556
[8] Ferreira C., Gene expression programming: a new adaptive algorithm for solving problem, Complex Systems, 13 (2000), n.2, 87- 129
[9] Goldberg D.E., Genetic Algorithms in Search, Optimisation and Machine Learning, Adison-Wesley, 1989
[10] Korzybski M., Zastosowanie metody ewolucyjnej do lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń, Materiały VI Krajowej Konferencji Elektroniki, Darłowo 2007, 169-174
[11] Korzybski M., Zastosowanie algorytmów genetycznych do lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń, Materiały XXV IC-SPETO, (2002), 443-446
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BPOM-0019-0017
Identyfikatory