Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-BPBA-0014-0007

Czasopismo

Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska

Tytuł artykułu

Właściwości przetwornika A/C mikrokontrolera STM32

Autorzy Kowalski, J. 
Treść / Zawartość http://e-iapgos.pl/
Warianty tytułu
EN STM32 A/D converter - metrological parameters
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL W artykule przedstawione zostały możliwości i niepewności pomiarowe wewnętrznego przetwornika mikrokontrolera STM32. W badaniach rozpoznano możliwość wykorzystania go dla budowy systemu gdzie analiza sygnału odbywającą się w mikrokontrolerze. Gdy nie ma możliwości oceny niepewności pojedynczego pomiaru konieczne jest przeprowadzenie takiej oceny na zbudowanym specjalnie do tego celu wcześniej systemie testowym. W artykule przedstawione zostały wyniki badań oraz metodyka pracy z systemem testowym.
EN The article presents the possibilities of using and expected uncertainties of the internal A/D converter of STM32 microcontroller. The study identified the possibility of using it to build a signal analysis system in the microcontroller. In that system it is necessary to perform single measurement uncertainty analysis, which should be performed in dedicated test-system. The article describes an example of work with such test-system and methodology of working with it.
Słowa kluczowe
PL mikrokontroler   STM32   przetwornik A/C   szum   niepewność   pomiar   sygnał  
EN microcontroller   STM32   A/D converter   noise   uncertainty   measurement   signal  
Wydawca Politechnika Lubelska
Czasopismo Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Rocznik 2011
Tom nr 4
Strony 11--14
Opis fizyczny Bibliogr. 4 poz., il.
Twórcy
autor Kowalski, J.
  • Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Elektrotechniki Automatyki Informatyki i Elektroniki, KowJak@agh.edu.pl
Bibliografia
1. Nota katalogowa: STM32 Doc ID 15274 Rev 5; STMicroelectronics; 2010.
2. Siegmund Brandt: Metody statystyczne i obliczeniowe analizy danych ; PWN, Warszawa 1976.
3. Julius S. Bendat, Allan G. Piersol: Metody analizy i pomiaru sygnałów losowych ; PWN, Warszawa 1976.
4. Dokumentacja środowiska: Matlab vR2009b, Statistics Toolbox; The MathWorks.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-article-BPBA-0014-0007
Identyfikatory