Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first previous next last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-8d5f16b4-aa9c-48cc-854d-34b3fcdab0e6

Czasopismo

Przegląd Elektrotechniczny

Tytuł artykułu

Soft fault diagnosis in analogue circuits based on the Pearson correlation

Autorzy Korzybski, M.  Ossowski, M. 
Treść / Zawartość http://pe.org.pl/
Warianty tytułu
PL Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych z wykorzystaniem korelacji Pearsona
Języki publikacji EN
Abstrakty
EN The paper deals with the diagnostic algorithm for soft faults in analogue circuits. It bases on the spectrum analysis of the circuit response to the rectangular input signal. The classifier applied in the location uses Pearson correlation coefficient. The identification is based on the formulas constructed with use of the evolutionary method: gene expression programming. The algorithm represents SBT (Simulation Before Test) technique and requires multiple analysis of circuit under test for building a fault dictionary. The numerical example shows the effectiveness of the algorithm.
PL W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania parametrycznych uszkodzeń układów analogowych. Bazuje on na analizie FFT odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i wymaga wielokrotnych analiz badanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu.
Słowa kluczowe
PL diagnostyka uszkodzeń parametrycznych   metody słownikowe   korelacja   tolerancja parametrów  
EN soft fault diagnosis   dictionary diagnostic methods   correlation   parameter tolerance  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Przegląd Elektrotechniczny
Rocznik 2014
Tom R. 90, nr 4
Strony 246--248
Opis fizyczny Bibliogr. 16 poz., schem., tab.
Twórcy
autor Korzybski, M.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź, marek.korzybski@p.lodz.pl
autor Ossowski, M.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź, marek.ossowski@p.lodz.pl
Bibliografia
[1] Chen H., Saeks R., A search algorithm for the solution of multifrequency fault diagnosis equations, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 589-594
[2] Sen N., Saeks R., Fault diagnosis for linear systems via multifrequency measurement, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 457-465
[3] Bandler J. W., Salama A. E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, vol.73 (1981), 1279-1325
[4] Lin P.M., Elcherif Y.S., Analoque circuits fault dictionary – New approaches and implementation, International Journal of Circuit Theory and Applications; vol. 13 (1985), 149-172
[5] Tadeusiewicz M., Korzybski M., A method for fault diagnosis in linear electronic circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.28 (2000), 245-262
[6] Liu D., Starzyk J.A., A generalized fault diagnosis method in dynamic analog circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.30 (2002), 487-510
[7] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M., An algorithm for soft-fault diagnosis of linear and nonlinear circuits, IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol.49 (2002), 1648-1653
[8] Rutkowski J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji I Łączności, 2003
[9] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol. 34 (2006), 607-615
[10] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Evolutionary metod for test frequences selection based on entropy index and ambiguity sets, International Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06 (2006), 511-514
[11] Korzybski M., Diagnozowanie uszkodzeń parametrycznych wykorzystujące FFT oraz metodę programowania wyrażeń genetycznych, Proceedings of IX KKE, CD, (2010), 181-186
[12] Korzybski M., Ossowski M., An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation, Przegląd Elektrotechniczny, 89 (2013), nr 2a, 282-284
[13] Ferreira C., Gene expression programming: a new adaptive algorithm for solving problem, Complex Systems, vol. 13, no. 2, 87- 129
[14] Korzybski M., Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits, Przegląd Elektrotechniczny, 86 (2011), nr 5, 195-198
[15] Korzybski M., Dictionary Method for Multiple Soft and Catastrophic Fault Diagnosis Based on Evolutionary Computation , Proceedings of International Conference on Signals and Electronic Systems ICSES (2008), 553-556
[16] Kamińska B., Arabi K., Bell I., Goteti P., Huertas J.L., Kim B., Rueda A., Soma M., Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits – First Release, Proceedings International Test Conference, 1997
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-8d5f16b4-aa9c-48cc-854d-34b3fcdab0e6
Identyfikatory
DOI 10.12915/pe.2014.04.60