Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-20d72e8a-ae09-4b1b-837c-1acf58f42d75

Czasopismo

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Tytuł artykułu

Przestrzenne charakterystyki wiązek promieniowania emitowanego przez lasery półprzewodnikowe

Autorzy Mroziewicz, B.  Pruszyńska-Karbownik, E.  Regiński, K. 
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN Spatial characteristics of the optical beams emitted by semiconductor lasers
Języki publikacji PL
Abstrakty
PL Rozkład natężenia pola optycznego w wiązce emitowanej przez lasery, określany jako charakterystyka kierunkowa lasera, ma z reguły duże znaczenie z punktu widzenia zastosowań laserów w praktyce. W szczególności odnosi się to do laserów półprzewodnikowych, które generują wiązkę o dużej rozbieżności, często wielomodową i astygmatyczną. W artykule przedstawiono oryginalne urządzenie nazwane profilometrem goniometrycznym, które okazało się uniwersalne, a szczególnie przydatne do pomiarów kierunkowych charakterystyk kwantowych laserów kaskadowych emitujących w pasmie średniej podczerwieni. Załączono wyniki pomiarów testowych i płynące z nich wnioski. Pokazano, że opisywane urządzenie może również służyć do pomiaru charakterystyk laserów diodowych w innych pasmach częstotliwości pod warunkiem zastosowania odpowiedniego detektora.
EN Spatial distribution of the optical field emitted by lasers, called also a radiation profile, is extremely important for laser applications. That is particularly relevant to semiconductor lasers due to a high divergence, often multimode character, and an astigmatism of the beam they emit. In the paper presented is an original instrument called a goniometric profiler which has proved to be very useful for measurements of the quantum cascade lasers operating in the mid–IR range. The paper includes measurement results and related conclusions. It has been demonstrated that the instrument can also serve to measure characteristics of other semiconductor diode lasers at the frequency range limited only by the used detectors.
Słowa kluczowe
PL lasery   rozkład natężenia pola   wiązka optyczna  
EN lasers   field intensity distribution   optical beam  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
Rocznik 2014
Tom Vol. 55, nr 3
Strony 84--88
Opis fizyczny Bibliogr. 9 poz., il., rys.
Twórcy
autor Mroziewicz, B.
  • Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa
autor Pruszyńska-Karbownik, E.
  • Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa
autor Regiński, K.
  • Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa
Bibliografia
[1] MacGregor A.: Know your beam, Laser Focus World, May (2006), 115–118.
[2] Peterman D.: Accurate profiling requires an appropriate choice of equipment, Laser Focus World, October (2003), 102–108.
[3] Coffrey V. C.: How to select a beam-profile measurement system, Laser Focus World, June (2009), 70–73.
[4] Sassnett W., T. F. Johnston, Jr.: Beam characterization and measurement of propagation attributes, SPIE Vol. 1414 Laser Beam Diagnostics (1991), pp. 21–32.
[5] Mroziewicz B.: Sposób pomiaru przestrzennego rozkładu natężenia promieniowania laserów półprzewodnikowych oraz urządzenie do pomiaru przestrzennego. rozkładu natężenia promieniowania laserów półprzewodnikowych. Pat. UP RP Nr 214293 (2006).
[6] Regiński K., B. Mroziewicz: Sposób pomiaru przestrzennego rozkładu natężenia promieniowania kwantowych laserów kaskadowych oraz urządzenie do pomiaru przestrzennego rozkładu natężenia promieniowania kwantowych laserów kaskadowych, Zgł. pat. Nr P393691.
[7] Johnson T. F. Jr.: Beam propagation (M²) measurement made as easy as it gets: the four-cuts metod, Appl. Opt. (1998), 37, 4840–4850.
[8] Kosiel, K. et al.: High power (>1 W) room-temperature (300 K) 980 nm continuous-wave AlGaAs/InGaAs/GaAs semiconductor lasers. Optica Applicata, 37, 4, (2007), 423–432.
[9] Kosiel K. et al.: Development of (λ ≈ 9.4 μm) GaAs-based quantum cascade lasers, Terahertz and mid infrared radiation: generation, detection and applications, (2009), 91–100.
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-20d72e8a-ae09-4b1b-837c-1acf58f42d75
Identyfikatory