PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Tom - szczegóły
Adres strony
Kopiuj
Tytuł artykułu
T. 22, z. 1
Czasopismo
Elektrotechnika i Elektronika
Wydawca
Wydawnictwa AGH
Rocznik
2003
Identyfikatory
Zawartość wolumenu
T. 22, z. 1
artykuł:
Model łuku dwuwarstwowego w obliczeniach parametrów dynamicznych łuku niestacjonarnego prądu stałego
(
Kruczinin A. M.
,
Sawicki A.
), s. 1--8
artykuł:
Optyczne testowanie topografii układów elektronicznych z wykorzystaniem morfologii matematycznej
(
Nagórny Z.
), s. 9--16
artykuł:
Adaptacyjny pomiar częstotliwości sieci energetycznej w systemie pomiarowym z procesorem sygnałowym TMS320C32
(
Bień A.
,
Danysz K.
), s. 17--24
artykuł:
Efekty niedopasowania tranzystorów MOS wykonanych w technologii VLSI
(
Gryboś P.
), s. 25--35
artykuł:
The IEC flickermeter model
(
Rogóż M.
), s. 36--46
artykuł:
Zakłócenia w układach scalonych typu mix-mode
(
Gryboś P.
), s. 47--55
rozwiń roczniki
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.