Narzędzia help

Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
last
cannonical link button

http://yadda.icm.edu.pl:80/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-019fd908-4f89-4526-810f-dd998a9c061b

Czasopismo

Przegląd Elektrotechniczny

Tytuł artykułu

An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation

Autorzy Korzybski, M.  Ossowski, M. 
Treść / Zawartość http://pe.org.pl/
Warianty tytułu
PL Algorytm diagnostyki błędów w układach analogowych bazujący na korelacji
Języki publikacji EN
Abstrakty
EN The paper deals with algorithm for single and multiple catastrophic fault diagnosis in analogue circuits. The algorithm bases on FFT analysis of the circuit response to the rectangular testing signal and uses as a classifier Pearson product-moment correlation coefficient. The algorithm represents SBT technique and requires multiple analyses of circuit under test, which enable us to built a fault dictionary. Each entry of dictionary is assigned with one fault. The numerical example shows the effectiveness of the proposed algorithm.
PL W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych. Algorytm bazuje na wykorzystującej FFT analizie odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i na etapie przygotowawczym wymaga wielokrotnych analiz diagnozowanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Jego sygnatury odpowiadają uszkodzeniom, których możliwość występowania została przewidziana na etapie przygotowawczym. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu.
Słowa kluczowe
PL diagnostyka uszkodzeń   uszkodzenia katastroficzne   korelacja   tolerancja parametrów  
EN fault diagnosis   catastrophic faults   correlation   parameter tolerance  
Wydawca Wydawnictwo SIGMA-NOT
Czasopismo Przegląd Elektrotechniczny
Rocznik 2013
Tom R. 89, nr 2a
Strony 282--284
Opis fizyczny Bibliogr. 17 poz., schem., tab.
Twórcy
autor Korzybski, M.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź, marek.korzybski@p.lodz.pl
autor Ossowski, M.
  • Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul.Stefanowskiego18/22, 90-924 Łódź, marek.ossowski@p.lodz.pl
Bibliografia
[1] Sen N., Saeks R., Fault diagnosis for linear systems via multifrequency measurement, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 457-465
[2] Chen H., Saeks R., A search algorithm for the solution of multifrequency fault diagnosis equations, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 589-594
[3] Bandler J. W., Salama A. E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, vol.73 (1981), 1279-1325
[4] Lin P.M., Elcherif Y.S., Analoque circuits fault dictionary - New approaches and implementation, International Journal of Circuit Theory and Applications; vol. 13 (1985), 149-172
[5] Ozawa T., Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis, New York, USA: Marcel Dekker, 1988
[6] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol. 34, pp. 607-615, 2006.
[7] Liu D., Starzyk J.A., A generalized fault diagnosis method in dynamic analog circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.30 (2002), 487-510
[8] Rutkowski J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji I Łączności, 2003
[9] El-Gamal M., Mohamed M.D.A., Ensembles of neural networks for fault diagnosis in analog circuits, Journal for Electronic Testing, vol.23 (2007), 323-339
[10] Tadeusiewicz M., Korzybski M., A method for fault diagnosis in linear electronic circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.28 (2000), 245-262
[11] Cannas B., Fanni A., Manetki S., Montisci A., Piccirilli M.C., Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis, Neural Comput & Applic, 13 (2004); 288-298
[12] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M., An algorithm for soft-fault diagnosis of linear and nonlinear circuits, IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol.49 (2002), 1648-1653
[13] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Evolutionary metod for test frequences selection based on entropy index and ambiguity sets, International Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06 (2006), 511-514
[14] Korzybski M., Diagnozowanie uszkodzeń parametrycznych wykorzystujące FFT oraz metodę programowania wyrażeń genetycznych, Proceedings of IX KKE, CD, pp.181-186, 2010.
[15] Korzybski M., Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits, Przegląd Elektrotechniczny, 86, nr 5, pp.195-198, 2011.
[16] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne, Proceedings of VII KKE, pp.311-316, 2008.
[17] Kamińska B., Arabi K., Bell I., Goteti P., Huertas J.L., Kim B., Rueda A., Soma M., Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits – First Release, Proceedings International Test Conference, 1997
Kolekcja BazTech
Identyfikator YADDA bwmeta1.element.baztech-019fd908-4f89-4526-810f-dd998a9c061b
Identyfikatory